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              鍍層測厚儀信賴推薦 江蘇一六儀器有限公司

              發布時間:2020-11-08 07:14  

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              江蘇一六儀器    專業測厚儀   多道脈沖分析采集    先進EFP算法

              膜厚儀又名膜厚測試儀分為手持式和臺式二種,手持式又有磁感應鍍層測厚儀,電渦流鍍層測厚儀,熒光X射線儀鍍層測厚儀。

              手持式的磁感應原理是,利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。

              臺式的熒光X射線膜厚儀,是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時·產生低能量的光子,俗稱為二次熒光,,在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值。


              一六儀器  X-RAY測厚儀研發生產廠家,歡迎來電咨詢!

              測厚儀,多薄多復雜組合的鍍層分析,一六儀器研發生產的儀器都能滿足您的使用!

              一六儀器提供的測厚儀可測試面積0.002mm?和80mm深槽的樣品

              測厚儀的測試方法主要有:磁性測厚法,測厚法,電解測厚法,渦流測厚法,超聲波測厚法。

                測量注意事項:⒈在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。

              ⒉測量時側頭與試樣表面保持垂直。

              ⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度,如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。

              ⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。

              ⒌測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產生磁場,如果會將會干擾磁性測厚法。



              江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發、生產、銷售的高新技術企業。研究開發出一系列能量色散X熒光光譜儀。廣泛應用于電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子等制造領域。

              影響涂層測厚儀精準度的因素有哪些

                 影響涂層測厚儀精準度的因素有哪些?生產產品過程中,可能就因為一點點的誤差,可能這批產品就成了報廢品,而這種情況在批量生產的廠家中為常見,也是需要注意的一個點。因此我們也就得對影響涂層測厚儀精準度的因素有所了解了。

              3)人為因素。這中情況經常會發生在新用戶的身上。測量范圍:(0~1250)μm(F1、N1測頭),F10測頭可達10mm。涂層測厚儀之所以能夠測量到微米級就因為它能夠采取磁通量的微小變化,并把它轉化成為數字信號。在使用儀器測量過程中如果用戶對本儀器不熟悉就可能使探頭偏離被測機體,使磁通量csgia.net發生變化造成錯誤測量。所以建議用戶朋友初次使用本儀器時,要先掌握好測量方法。探頭的放置方式對測量有很大影響,在測量中應使探頭與試樣表面保持垂直。并且探頭的放置時間不宜過長,以免造成基體本身磁場的干擾。


              一六儀器---鍍層測厚儀|光譜測厚儀|X-ray測厚儀|X熒光測厚儀|凃層膜厚儀

              性能優勢:

               下照式設計:可以快速方便地定位對焦樣品。

               無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進行無損檢測,凹槽深度范圍0-90mm。

               微聚焦射線裝置:可檢測面積小于0.002mm2的樣品,可測試各微小的部件。

               率的jie shou qi :即使測試0.01mm2以下的樣品,幾秒鐘也能達到穩定性。

               精密微型滑軌:快速精準定位樣品。

               EFP先進算法軟件:多層多元素,甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

              測厚儀和膜厚儀一樣嗎

              測厚儀的原理:超聲波測厚儀是根據超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量,當探頭發射超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時,脈沖被反射回探頭,通過準確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。

              膜厚儀:屬于測厚儀的一種,膜厚儀測量覆膜薄膜的厚度,手持式的有涂層測厚儀,為磁阻法和電渦流原理,臺式的不同原理也有好多種,電感原理等。