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發布時間:2020-08-13 15:36  
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一六 熒光測厚儀 十年以上研發團隊 集研發生產銷售一體
元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U) 厚度分析范圍:各種元素及有機物
一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um
鍍層厚度分析儀簡介鍍層厚度分析儀又叫涂鍍層測量儀、電鍍層測試儀、防腐層檢測儀、涂鍍層測試儀、涂鍍層測量儀、油漆測厚儀價格、油漆層測厚儀、油漆膜厚儀、鋼結構油漆層測厚儀、鋼板油漆測厚儀、鋼管油漆測厚儀、油漆防腐層測厚儀、油罐防腐層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性涂層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。涂鍍層測厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩定性好、操作簡便等特點,是控制和保證產品質量必不可少的檢測儀器,廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。操作快速,能適應多類鍍層,大量檢測,但體積較大,計算機除外約100000cm2,50000g左右。
鍍層厚度測量已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要環節,是產品達到優等質量標準的必要手段。為使產品國際化,我國出口商品和涉外項目中,對鍍層厚度有了明確要求。
鍍層厚度分析儀的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。
X射線和β射線法是無接觸無損測量,測量范圍較小,X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。
隨著技術的日益進步,特別是近年來引入微機技術后,X射線鍍層厚度分析儀向微型、智能、多功能、、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米,精度可達到1%,有了大幅度的提高。它適用范圍廣,量程寬、操作簡便且價廉,是工業和科研使用廣泛的測厚儀器。江蘇一六儀器X射線熒光光譜測厚儀性能特點滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求φ0。



江蘇一六儀器 X熒光光譜測厚儀 優點
X射線熒光能譜儀沒有復雜的分光系統,結構簡單。X射線激發源可用X射線發生器,也可用性同位素。能量色散用脈沖幅度分析器。探測器和記錄等與X射線熒光光譜儀相同。
X射線熒光光譜儀和X射線熒光能譜儀各有優缺點。前者分辨率高,對輕、重元素測定的適應性廣。對高低含量的元素測定靈敏度均能滿足要求。后者的X射線探測的幾何效率可提高2~3數量級,靈敏度高。可以對能量范圍很寬的X射線同時進行能量分辨(定性分析)和定量測定。5彩色CCD,變焦功能對焦方式高敏感鏡頭,手動對焦放大倍數:光學38-46X,數字放大40-200倍隨機標準片:十二元素片、Ni/Fe5um、Au/Ni/Cu0。對于能量小于2萬電子伏特左右的能譜的分辨率差。
江蘇一六儀器 X射線熒光光譜測厚儀
產品配置
X光金屬鍍層測厚儀標準配置為:X射線管,正比計數器﹨半導體探測器,高清攝像頭,高度激光,信號檢測電子電路。
性能指標
X射線激發系統 垂直上照式X射線光學系統
空冷式微聚焦型X射線管,Be窗
標準靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等
X射線管:管電壓50KV,管電流1mA
可測元素:CI~U
檢測器:正比計數管
樣品觀察:CCD攝像頭
測定軟件:薄膜FP法、檢量線法
Z軸程控移動高度 20mm

