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發布時間:2021-09-04 03:05  
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偏光鏡檢術的方式及要求
(1)正相鏡檢(Orthscope):又稱無畸變鏡檢,其特點是使用低倍物鏡,不用伯特蘭透鏡(Bertrand Lens),被研究對象可直接用偏振光研究。同時為使照明孔徑變小,推開聚光鏡的上透鏡。正相鏡檢用于檢查物體的雙折射性。
(2)錐光鏡檢(Conoscope):又稱干涉鏡檢,研究在偏振光干涉時產生的干涉圖樣,這種方法用于觀察物體的單軸或雙軸性。在該方法中,用強會聚偏振光束照明。
(1)載物臺的中心與光軸同軸。
(2)起偏鏡和檢偏鏡應處于正交位置。
(3)制片不宜過薄。
高倍物鏡的使用注意事項
1.偏光顯微鏡用低倍物鏡時,應將錐光鏡移出光路。用高倍物鏡及觀察錐光圖時,必須將錐光鏡轉入光路,并適量調節鎖光圈大小。
2.在高倍物鏡下看錐光圖時才需將勃氏鏡加進光路,并可在照明光源上加毛玻片。在觀察微小礦物時,應在光路中加入小孔光欄。
3.當用人工照明光源時,可在下偏光鏡下加藍色濾,以使視場亮度色調均勻。
4.薄片置于物臺上時,薄片蓋玻片必須向上,并用彈簧夾夾住薄片。
5.當使用高倍物鏡觀察時,一般都先用低倍物鏡來尋找目標,并使觀察目標移向視場中心,然后更換上高倍物鏡。調換時,應將鏡筒升高使物鏡離開切片,這樣可避免因物鏡碰到切片而使切片走動。同時應注意不使物鏡調節螺絲走動。
6.在使用過程中必須注意:要先旋轉微動手輪,使微動處于中間位置,再轉動粗調手輪,將鏡筒下降使物鏡靠近切片(從側面觀察)。然后在觀察切片的同時再慢慢上升鏡筒至看清礦物象為止,這樣可避免物鏡與切片相互碰撞而壓壞切片和損壞鏡頭。
7.粗調手輪如發現太松或太緊時,用手握緊一只粗調手輪,轉動另一只手輪做適當地調節。

偏光顯微鏡的用途該產品采用無限遠校正光學系統
偏光顯微鏡的用途
該產品采用無限遠校正光學系統,具有大視野、成像質量高、透射照明與垂直照明系統、功能等特點;產品采用高鋼性主體,充分滿足顯微操作的防震要求;可供廣大用戶做單偏光觀察,正交偏光觀察,錐光觀察。廣泛應用于地質、化工、、藥品等領域的研究與檢驗;也可進行液態高分子材料,生物聚合物及液晶材料的晶相觀察,是科研機構與高等院校進行研究與教學的理想儀器;可依據客戶需求升級為數碼顯微攝像。
