天津色差儀售價(jià)性價(jià)比出眾「在線咨詢」

天津永利達(dá)試驗(yàn)機(jī)有限公司主要針對(duì)油漆，涂料等行業(yè)， 為客戶提供生產(chǎn),研發(fā)所需的精密檢測(cè)儀器。多年來企業(yè)榮獲了多項(xiàng)行業(yè)榮譽(yù)并取得屬于自己專利的產(chǎn)品達(dá)50多種，

測(cè)量精度影響因素及相關(guān)說明：1、基體金屬磁性 磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響 ，為了防止解決及冷加工因素的影響，應(yīng)運(yùn)用與試件基體金屬具備一樣性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器實(shí)行校準(zhǔn)。亦可用待涂覆試件實(shí)行校準(zhǔn)。2、基板金屬厚度每臺(tái)儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于此厚度時(shí)，測(cè)量不受基體金屬厚度的影響。3、邊緣效應(yīng)儀對(duì)試件外表面形狀的陡變敏感。因而在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處實(shí)行測(cè)量是不可靠的。4、曲率試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的增加明顯地增大。5、外表面粗糙度基體金屬和籠罩層的外表面粗糙水平對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙外表面會(huì)致使系統(tǒng)誤差和偶爾誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同地方上應(yīng)減少測(cè)量的次數(shù)，以克制這種偶然誤差。6、各種電氣設(shè)施在磁場(chǎng)四周發(fā)生的強(qiáng)磁場(chǎng)會(huì)重大煩擾鍍鋅層測(cè)厚儀使用。7、附著物質(zhì) 對(duì)那些障礙測(cè)頭與籠罩層外表面嚴(yán)密接觸的附著物質(zhì)敏感，因而，必需清除附著物質(zhì)，以保障儀器測(cè)頭和被測(cè)試件外表面直接接觸。

常規(guī)涂層測(cè)厚儀的原理

用于表面保護(hù)和裝飾材料（例如涂層，鍍層，涂層，覆蓋層，化學(xué)生成的薄膜等）的覆蓋層在相關(guān)的國家和國際標(biāo)準(zhǔn)中稱為涂層。 漆膜測(cè)厚儀

涂層厚度的測(cè)量已成為加工行業(yè)和表面工程質(zhì)量檢查的重要組成部分，并且是產(chǎn)品達(dá)到質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必不可少的手段。 為了使產(chǎn)品國際化，中國的出口商品和涉外項(xiàng)目對(duì)涂層的厚度有明確的要求。

涂層厚度的測(cè)量方法有：楔形切割法，光攔截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱量法，X射線熒光法，β射線背散射法，電容法，磁法和渦流法， 等。前五個(gè)方法是破壞性測(cè)試。 測(cè)量方法麻煩且緩慢，并且適合于抽樣檢查。

X射線和β射線方法是非接觸式和非破壞性的測(cè)量，但是設(shè)備復(fù)雜且昂貴，并且測(cè)量范圍小。 由于存在源，用戶必須遵守防規(guī)。  X射線法可以測(cè)量極薄的涂層，雙層涂層和合金涂層。  β射線法適用于原子序數(shù)大于3的涂層和基材的測(cè)量。電容法僅在測(cè)量薄導(dǎo)體絕緣涂層的厚度時(shí)使用。

隨著技術(shù)的進(jìn)步，特別是近年來引入微計(jì)算機(jī)技術(shù)之后，使用磁和渦流方法的厚度計(jì)已經(jīng)朝著小型化，智能化，多功能，和實(shí)用性邁出了一步。 測(cè)量分辨率達(dá)到0.1微米，精度可以達(dá)到1％，大大提高了。 它具有廣泛的應(yīng)用范圍，測(cè)量范圍廣，操作簡便，成本低廉，是工業(yè)和科學(xué)研究中使用廣泛的厚度測(cè)量儀器。

來測(cè)量涂層厚度。 因此，必須影響被測(cè)基板的電磁物理特性和物理尺寸。磁通量和渦流的大小。 這影響了測(cè)量值的可靠性，將介紹以下問題。 1.邊界距離如果探頭與被測(cè)物體的邊界，孔眼，空腔和其他橫截面之間的距離小于的邊界間隙，則測(cè)量誤差將由磁通量不足或渦流載流子橫截面引起 。 如果此時(shí)需要測(cè)量涂層厚度，則只能通過在相同條件下預(yù)先在未涂層表面上對(duì)其進(jìn)行校準(zhǔn)來進(jìn)行測(cè)量。  （注：產(chǎn)品通過疊加校準(zhǔn)具有獨(dú)特的功能，可以達(dá)到3％到10％的精度） 2.在直線比較樣品上將基材的表面曲率校準(zhǔn)為初始值，然后在測(cè)量涂層厚度后減去初始值。 或參考下一篇文章。 3.賤金屬的厚度賤金屬必須具有給定的厚度，以便探頭的電磁場(chǎng)可以完全包含在賤金屬中。 厚度與測(cè)量設(shè)備的性能以及金屬基底的特性有關(guān)。 進(jìn)行測(cè)量而不校正測(cè)量值。 對(duì)于襯底厚度不足的影響，可以采取措施將相同材料的一塊緊密粘附在襯底下面以消除它。 如果難以確定或無法添加基材，則可以通過與已知涂層厚度的樣品進(jìn)行比較來確定與額定值的差。 并在測(cè)量中考慮到這一點(diǎn)，并對(duì)測(cè)量值進(jìn)行相應(yīng)的校正或參考第2條進(jìn)行校正。 那些可以校準(zhǔn)的儀器可以通過調(diào)節(jié)旋鈕或按鈕來獲得準(zhǔn)確的直接讀數(shù)厚度值。 相反，如上所述，可以利用厚度過小的影響來開發(fā)用于直接測(cè)量銅箔的厚度的厚度計(jì)。