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發布時間:2020-11-10 11:01  
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一六 熒光測厚儀 十年以上研發團隊 集研發生產銷售一體
元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U) 厚度分析范圍:各種元素及有機物
一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um
工業X射線鍍層厚度分析儀以其快速、無損、現場測量等優點,已在冶金、建材、地質、環保、商檢、考古、醫學等領域得到迅速推廣和應用。近幾年來X射線熒光儀已在工業鍍層及涂層厚度測量中應用越來越廣泛。眾所周知,產品和金屬元件表面鍍層或防腐層厚度是與產品質量與性能相關的重要指標。實驗表明使用同位素X射線熒光分析方法,能夠滿足工業鍍層和涂層厚度的分析要求,并且具有無損、在線、簡便快速、可實現自動控制等特點。通過加大加速電壓,電子攜帶的能量增大,則有可能將金屬原子的內層電子撞出。



江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發、生產、銷售的高新技術企業。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區。我們專業的研發團隊具備十年以上的從業經驗,經與海內外多名專家通力合作,研究開發出一系列能量色散X熒光光譜儀。
波長色散型X射線熒光光譜儀的前面部分和能量色散型X射線熒光光譜儀是一樣的,X光管激發樣品,檢測器測量來自樣品的射線,但波長色散型X射線熒光光譜儀的檢測器和能量色散型X射線熒光光譜儀的檢測器不同。波長色散型X射線熒光光譜儀的計策系統由一套準直器,衍射晶體和探測器組成,來自樣品的特征譜線照射到鏡頭上,晶體將不同波長(能量)的譜線衍射到不同的方向,(相當于棱鏡將復合光分解成不同的單色光),將檢測器放置在一定的角度,就可測量某一波長的譜線強度。將分光晶體和探測器裝在測角儀上,使它在一定角度范圍內轉動,一次測量不同波長長譜線的強度,使用這種形式的光譜儀稱為順序掃描式光譜儀。安裝固定檢測系統的稱為同時式光譜儀,每一套檢測系統都有自己的晶體和探測器,分別測量某一特定元素的譜線,各譜線的強度同時被測量,這就很容易理解為什么稱它為固定道波長色散型光譜儀,另外也有固定式和轉動式結合的儀器。標準片應與被測試樣具有相同的覆蓋層和基體材料,但對試樣基材為合金成分的,有些儀器軟件允許標樣基材可與被測試樣基材不同,但前提是標準塊基體材料與試樣基材中的主元素相同。X射線波長色散型光譜儀一般有光源(X-射線管)、樣品室
分光晶體和檢測系統等組成。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發、生產、銷售的高新技術企業。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區。我們專業的研發團隊具備十年以上的從業經驗,經與海內外多名專家通力合作,研究開發出一系列能量色散X熒光光譜儀
江蘇一六儀器 能量色散X射線熒光光譜測厚儀
X射線的產生利用X射線管(圖2),施加高電壓以加速電子,使其沖撞金屬陽極(對陰極)從而產生X射線。從設計上分為橫窗型(side window type)和縱窗型(end window type)兩種X射線管,都是設計成能夠把X射線均勻得照射在樣品表面的結構。一六熒光測厚儀十年以上研發團隊集研發生產銷售一體元素分析范圍:氯(CI)-鈾(U)厚度分析范圍:各種元素及有機物一次可同時分析:23層鍍層,24種元素厚度檢出限:0。
X射線窗口,一般使用的是鈹箔。陰極(也叫做:靶材)則多使用是鎢(W)、銠(Rh)、鉬(Mo)、鉻(Cr)等材料。這些靶材的使用是依據分析元素的不同而使用不同材質。原則上分析目標元素與靶材的材質不同。


江蘇一六儀器 X射線熒光光譜測厚儀
產品配置
X光金屬鍍層測厚儀標準配置為:X射線管,正比計數器﹨半導體探測器,高清攝像頭,高度激光,信號檢測電子電路。
性能指標
X射線激發系統 垂直上照式X射線光學系統
空冷式微聚焦型X射線管,Be窗
標準靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等
X射線管:管電壓50KV,管電流1mA
可測元素:CI~U
檢測器:正比計數管
樣品觀察:CCD攝像頭
測定軟件:薄膜FP法、檢量線法
Z軸程控移動高度 20mm

