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發布時間：2021-01-06 13:38
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能量色散X射線熒光光譜儀技術原理
江蘇一六儀器 國內外通力合作打造高性價比X熒光測厚儀 穩定的多道脈沖分析采集系統,專利獨特聚焦和變距設計,多元EFP算法,簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例
能量色散X射線熒光光譜儀主要由激發、色散、探測、記錄及數據處理等單元組成。激發單元的作用是產生初級X射線。
它由高壓發生器和X光管組成。后者功率較大，用水和油同時冷卻。色散單元的作用是分出想要波長的X射線。它由樣品室、狹縫、測角儀、分析晶體等部分組成。
能量色散X射線熒光光譜儀技術原理
能量色散X射線熒光光譜儀是一種波長較短的電磁輻射，凡間是指能t局限在0.1^-100keV的光子。能量色散X射線熒光光譜儀與物質的互相效果首要有熒光、接收和散射三種。
能量色散X射線熒光光譜儀是由物質中的構成元素發生的特征輻射，經過側里和剖析樣品發生的x射線熒光，即可獲知樣品中的元家構成，獲得物質成分的定性和定量信息。
江蘇一六儀器 X射線熒光光譜測厚儀研發生產廠 一六儀器一liu品質 可同時檢測多層材料鍍層厚度(含有機物)及成分.操作簡單方便.厚度含量測試只需要幾秒鐘,歡迎來電咨詢!
性能優勢：
下照式設計：可以快速方便地定位對焦樣品。
無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm。
微聚焦射線裝置：可檢測面積小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件。
率的jie shou qi：即使測試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達到穩定性。
EFP先進算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。
激光測厚儀的技術指標介紹
激光測厚儀一般是由兩個激光位移傳感器上下對射的方式組成的，上下的兩個傳感器分別測量被測體上表面的位置和下表面的位置，通過計算得到被測體的厚度。激光測厚儀的優點在于它采用的是非接觸的測量，相對接觸式測厚儀更精準，不會因為磨損而損失精度。插拔測頭時，應捏住活動外套沿軸線用力，不可旋轉測頭，以避免損壞測頭電纜芯線。相對超聲波測厚儀精度更高。相對X射線測厚儀沒有輻射污染。
一六儀器 國內外通力合作打造高性價比X熒光測厚儀
一六儀器研發生產的X熒光光譜儀,穩定的多道脈沖分析采集系統,專利獨特聚焦和變距設計,多元EFP算法,簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例
涂層測厚儀操作規程有哪些
我們在使用涂層測厚儀時，如果不了解涂層測厚儀的操作規程，那么就很容易出現一些問題，甚至嚴重的可能會對自身產生威脅，那么涂層測厚儀的操作規程有哪些，下面就來了解下先：
一、技術參數
采用了磁性和渦流兩種測厚方法。通過選擇相應的測頭，即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度；
測量范圍：（0~1250）μm（F1、N1測頭），F10測頭可達10mm；
分辨率：0.1μm（F1、N1測頭）
示值精度：±（3％H 1）μm；H為被測涂層厚度
顯示方法：高對比度的段碼液晶顯示，高亮度EL背光；
存儲容量：可存儲20組（每組多50個測量數值）測量數據
單位制：公制μm、英制（mil）、可自由轉換 ? 工作電壓：3V（2節5號堿性電池）
持續工作時間：大于200小時（不開背光燈）
通訊接口：USB1.1，可與PC機連接、通訊
一六儀器---鍍層測厚儀|光譜測厚儀|X-ray測厚儀|X熒光測厚儀|凃層膜厚儀
精密微型滑軌：快速精準定位樣品。
如何安裝X射線測厚儀
2) C型架按運行軌跡定位，并作感觀質量檢查。
3) C型架落入導軌后，就進行冷卻水管、壓縮空氣的軟管及同軸電纜的連接。上述軟管及電纜應順著撓性履帶的走向固定牢固。
4) 儀表柜、主控臺，就地控制箱和前置放大器箱的安裝，根據現場施工條件分頭進行吊裝。
5) 電纜敷設，除同軸電纜外還包括控制系統電纜和測量信號系統電纜。
