反射式膜厚儀常用指南,蘇州大塚電子有限公司

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

膜厚儀一般來說和涂層測厚儀是一類產(chǎn)品。

膜厚儀一般是測氧化膜層厚度，常見的鋁基，銅基氧化，測量時候用涂層測厚儀選擇N（非磁性）探頭，這樣測鋁基等氧化層也稱為膜厚儀。

涂層測厚儀正常情況下有兩種測量原理，配F合N探頭，或者FN一體探頭。氧化層一般是幾微米到十幾微米，但是普通的涂層測厚儀誤差比較大，需要用的涂層測厚儀測量氧化層，比如中科樸道的PD-CT2涂層測厚儀就可以測量氧化層。

膜厚儀購買注意事項

1.膜厚儀的標準配置包含校準試片，不能減配，否則影響儀器后續(xù)校準和測量精度。

2.對于特殊行業(yè)的應(yīng)用需選擇不同類型的傳感器，滄州歐譜比如是否是超厚涂層測量。

3.選擇使用磁阻式涂層測量儀時，使用環(huán)境周圍不能存在磁場。

4.膜厚儀各項標準符合《中華人民共和國計量法》，建議從取得CMC認證的測量儀器廠家購買。