交直流數字電壓表值得信賴「多圖」

IC半導體的基礎知識(三)

雜質半導體    在本征半導體中，如果摻入微量的雜質(某些特殊元素)，將使摻雜后的半導體(雜質半導體)的導電能力顯著改變。根據摻入雜質性質的不同，雜質半導體分為電子型半導體(N型)和空穴型半導體(P型)兩大類。

1.N型半導體

若在純凈的硅晶體中摻入微量的五價元素(如磷)，這樣，硅原子占有的某些位置會被摻入的微量元素(如磷)原子所取代。而整個晶體結構基本不變。磷原子與硅原子組成共價鍵結構只需四個價電子，而磷原子的外層有五個價電子，多余的那個價電子不受共價鍵束縛，只需獲得很少的能量就能成為自由電子。SM1對稱密碼算法：一種分組密碼算法，分組長度為128位，密鑰長度為128比特。由此可見，摻入一個五價元素的原子，就能提供一個自由電子。必須注意的是，產生自由電子的同時并沒有產生空穴，但由于熱運動原有的晶體仍會產生少量的電子空穴對。所以，只要在本征半導體中摻入微量的五價元素，就可以得到大量的自由電子，且自由電子數目遠比摻雜前的電子空穴對數目要多得多。

這種以自由電子導電為主要導電方式的雜質半導體稱為電子型半導體，簡稱N型半導體。N型半導體中存在著大量的自由電子，這就提高了電子與空穴的復合機會，相同溫度下空穴的數目比摻雜前要少。LVS主要是將版圖和電路網表進行比較，來保證流片出來的版圖電路和實際需要的電路一致。所以，在N型半導體中，電子是多數載流子(簡稱多子)，空穴是少數載流子(簡稱少子)。N型半導體主要靠自由電子導電，摻入的雜質濃度越高，自由電子數目越大，導電能力也就越強。

在N型半導體中，一個雜質原子提供一個自由電子，當雜質原子失去一個電子后，就變為固定在晶格中不能移動的正離子，但它不是載流子。因此，N型半導體就可用正離子和與之數量相等的自由電子去表示。

數字IC應用驗證方真技術研究

應用驗證是指導IC元器件在系統中的可靠應用的關鍵,重點要關注應用系統對器件接口信號的影響,因此無論是采用純軟件還是軟硬件協同的方式進行應用驗證都需要先完成應用系統的PCB工作。本文提出的應用驗證技術方案以基IBIS模型在多個平臺進行PCB SI(Signal Integrity)的方式提取出所需的數據,實現對系統應用環境的模擬;在此基礎上通過軟件和軟硬件協同兩種方法來實現數字IC器件的應用驗證。Filler指的是標準單元庫和I/OPad庫中定義的與邏輯無關的填充物，用來填充標準單元和標準單元之間，I/OPad和I/OPad之間的間隙，它主要是把擴散層連接起來，滿足DRC規則和設計需要。為保證應用驗證的順利進行,對方案中涉及到的IBIS建模、PCB SI和S參數的提取及等技術進行了研究。

提出的應用驗證技術方案的指導下,以SRAM的應用驗證為例進行了相關的技術探索。首先對IBIS模型建模技術進行了深入研究,并完成了SRAM以及80C32等相關IC器件的IBIS模型建模工作;接著基于IBIS模型進行PCB SI,模擬了SRAM的板級應用環境并提取了應用驗證所需的數據;后分別對適用于SRAM的軟件平臺和軟硬件協同平臺進行了相關設計,并完成了SRAM的應用驗證。這樣就可以知道各大廠所面臨到的困境，以及達成這個目標究竟是多么艱巨。通過對SRAM的應用驗證,證明了本文所提出的應用驗證技術方案的可行性。

數字ic時鐘種類有哪些？

在開展數字ic電路設計設計過程中，無論是ASICFPGA，系統軟件數字時鐘的可信性，十分重要。設計方案欠佳的數字時鐘在限的溫度、工作電壓或生產制造加工工藝的誤差狀況下將造成 錯誤的行為。一般來說，綜合完成后需要再次做驗證（這個也稱為后）邏輯綜合工具：Synopsys的DesignCompiler，工具選擇上面的三種工具均可。而且一般和數字時鐘有關的難題，在調節全過程中，難度系數很大、精準定位較難、開銷非常大。

數字ic時鐘種類

一般數字時鐘可分成以下四種種類：全局性數字時鐘、自動門數字時鐘、多級別邏輯性數字時鐘和起伏式數字時鐘。可是在具體工作上，一個設計方案里邊，通常全是多時鐘系統，即包含所述四種數字時鐘種類的隨意組成。