紹興鍍層膜厚儀服務為先

能量色散X射線熒光光譜儀技術原理

江蘇一六儀器  國內外通力合作打造高性價比X熒光測厚儀 

穩定的多道脈沖分析采集系統,專利獨特聚焦和變距設計,多元EFP算法,簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例

能量色散X射線的發生與特征當用高能電子束照耀樣品時，人射高能電子被樣品中的電子減速，這種帶電拉子的負的加快度會發生寬帶的延續X射線譜，簡稱為延續潛或韌致輻射。

另一方面，化學元素遭到高能光子或粒子的照耀，如內層電子被激起，則當外層電子躍遷時，就會出特征X射線。

能量色散X射線是一種別離的不延續譜.假如激起光源為x射線，則受激發生的x射線稱為二次X射線或X射線熒光。特征X射線顯示了特征能量色散X射線熒光光譜儀發生的進程。

當人射x射線撞擊原子中的電子時，如光子能量大于原子中的電子約束能，電子就會被擊出。這一互相效果進程被稱為光電效應，被打出的電子稱為光電子。經過研討光電子或光電效應可以取得關于原子構造和成鍵形態的信息。

江蘇一六儀器   X熒光光譜測厚儀

應用領域：

線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測

鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析

手表、精密儀表制造行業

釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeAIB

汽車、五金、電子產品等緊固件的表面處理檢測

江蘇一六儀器以“竭盡全力創造客戶認可的有價值的產品和服務”為使命，持續進行產品與服務創新。

繼續秉承“專注測厚儀，一六儀器，一 liu 品質”的原則，堅持自主創新、合作共贏。

一家值得信賴、受人尊敬的公司。

一六儀器X射線熒光測厚儀 研發生產廠家 品質保證

江蘇一六儀器有限公司研發的能量色散X熒光光譜儀具有穩定的多道脈沖分析采集系統、先進的解譜方法和EFP算法結合精準定位及變焦結構設計，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析，歡迎來電咨詢！

不同種類的測厚儀的應用

1、薄膜測厚儀：用于測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量范圍寬、測量精度高，具有數據輸出、任意位置置零、公英制轉換、自動斷電等特點。

2、X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性，一六儀器從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態計量儀器。

釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB

衛浴產品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

電鍍液的金屬陽離子檢測

3、涂層測厚儀：用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.