粒徑儀測試設備點擊了解更多【大塚電子】

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

產品特點對應高鹽濃度溶液界達電位 。可量測0-90℃寬闊的溫度范圍。可量測懸濁度的高濃度樣本粒徑。搭載自動溫度梯度測量功能，可分析變性、相變溫度。通過i新型的高感度APD提高感光度，成功縮短了量測時間。

顆粒大小與激光粒度分析儀

激光粒度分析儀

　　儀器分類

　　?靜態激光

　　能譜是穩定的空間分布。主要適用于微米級顆粒的測試，經過改進也可將測量下限擴展到幾十納米。

　　?動態激光

　　根據顆粒布朗運動的快慢，通過檢測某一個或二個散射角的動態光散射信號分析納米顆粒大小，能譜是隨時間高速變化。動態光散射原理的粒度儀僅適用于納米級顆粒的測試。

粒徑儀提供快速、準確、便捷的粒徑大小測試，界連電位測試以及分子量的測試。 該分析儀可在0.3nm-10μm粒度范圍內進行粒徑測量，-200到200mV間進行界達電位測量。