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發(fā)布時間:2020-10-29 07:22  
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很多實驗研究發(fā)現(xiàn),鈍化層或底層、濕氣滲透和/或裸片邊緣離層是晶圓級封裝常見的熱機械失效模式。此外,裸片邊緣是一個特別敏感的區(qū)域,我們必須給予更多的關(guān)注。事實上,扇入型封裝裸片是暴露于空氣中的(裸片周圍沒有模壓復(fù)合物覆蓋),容易被化學(xué)物質(zhì)污染或發(fā)生現(xiàn)象。所涉及的原因很多,例如晶圓切割工序未經(jīng)優(yōu)化,密封環(huán)結(jié)構(gòu)缺陷(密封環(huán)是指裸片四周的金屬花紋,起到機械和化學(xué)防護(hù)作用)。此外,由于焊球非??拷g化層,焊球工序與線路后端??赡軙嗷ビ绊?。
集成電路封裝測試屬于技術(shù)密集型行業(yè),行業(yè)創(chuàng)新主要體現(xiàn)為生產(chǎn)工藝的創(chuàng)新,技術(shù)水平主要體現(xiàn)為產(chǎn)品封裝加工的工藝水平。氣派科技目前走的還是傳統(tǒng)封裝技術(shù)路線,降低成本可以說是非常重要了。由于封測是半導(dǎo)體制造的后道工序,所以并非是產(chǎn)業(yè)鏈的核心。其技術(shù)可分為傳統(tǒng)封裝和先進(jìn)封裝,氣派科技,采用的是傳統(tǒng)封裝技術(shù)。
封裝不僅僅是制造過程的后一步,它正在成為產(chǎn)品創(chuàng)新的催化劑。先進(jìn)的封裝技術(shù)能夠集成多種制程工藝的計算引擎,實現(xiàn)類似于單晶片的性能,但其平臺范圍遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過單晶片集成的晶片尺寸限制。這些技術(shù)將大大提高產(chǎn)品級性能和功效,縮小面積,同時對系統(tǒng)架構(gòu)進(jìn)行改造。隨著電子行業(yè)正在邁向以數(shù)據(jù)為中心的時代,先進(jìn)封裝將比過去發(fā)揮更重大的作用。
微通孔分離
隨著電子器件中的間距越來越小,微通孔技術(shù)在PCB中的應(yīng)用呈式增長。微孔堆疊多達(dá)三或四層高已經(jīng)變得非常普遍。然而,如果這些設(shè)計沒有使用正確的材料和幾何形狀,微孔可能會經(jīng)歷意想不到的開裂和分層。熱-機械應(yīng)力、水分、振動和其他應(yīng)力會導(dǎo)致微孔的分離,以及與電鍍通孔(PTH)頂部或底部的銅跡線的分層。Sherlock分析這些問題區(qū)域,會考慮回流和/或操作過程中的超應(yīng)力條件,并可以預(yù)測疲勞何時會導(dǎo)致過孔或貫穿孔、通孔、路由層和凸點下金屬層(UBM)接點之間的互連故障。
