手持式光譜儀回收服務(wù)為先,滿溢光譜儀

UV-PLUS專利光學(xué)系統(tǒng)是純凈的，同時(shí)具有杰出的長期穩(wěn)定性。專利系統(tǒng)在120-180nm波段透光效率，運(yùn)行成本很低。

的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)與UV-PLUS概念相結(jié)合，能夠同時(shí)以高達(dá)9pm的光譜分辨率記錄120-800nm波段的全部一級光譜圖。這一核心技術(shù)奠定了SPECTROLAB杰出分析性能的重要基礎(chǔ)。

基于用戶的分析需求，儀器可以定制成十種標(biāo)準(zhǔn)基體的任意組合。

CCD光學(xué)系統(tǒng)可以自由選擇120-800nm范圍內(nèi)的任意譜線用于分析線或參比線。光電管光學(xué)系統(tǒng)可設(shè)置108個(gè)光電倍增管。每個(gè)光電管通道都有是一個(gè)微積分器，具有TRS（時(shí)間分解光譜技術(shù)）分析痕量元素和SSE（單火花評估技術(shù)）分析元素相態(tài)。事實(shí)上，所有分析要求都可以在M12中無折衷地實(shí)現(xiàn)。

德國斯派克分析儀器公司SPECTRO全新研發(fā)的垂直同步雙觀測（DSOI）技術(shù)為提升ICP-OES的靈敏度提供了一種全新的解決方案。采用該技術(shù)解決了等離子體觀測的核心問題，靈敏度是傳統(tǒng)垂直觀測等離子體儀器的數(shù)倍，性能價(jià)格比優(yōu)異。

SPECTRO創(chuàng)新的垂直同步雙觀測（DSOI）方式，使用兩個(gè)光學(xué)接口捕獲來自垂直等離子體的發(fā)射光，使得微弱信號的檢測能力大幅提升，同時(shí)又允許高濃度、重基體進(jìn)樣。進(jìn)一步降低了記憶效應(yīng)和污染風(fēng)險(xiǎn)。DSOI技術(shù)將傳統(tǒng)垂直觀測系統(tǒng)的靈敏度提高了數(shù)倍，避免了垂直雙觀測結(jié)構(gòu)的復(fù)雜缺點(diǎn)和降低了用戶使用成本。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制