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              OPTM設備服務為先 蘇州大塚電子

              發布時間:2020-12-20 07:15  

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              頭部集成了薄膜厚度測量所需功能

              通過顯微光譜法測量高i精度絕i對反射率(多層膜厚度,光學常數)

              1點1秒高速測量

              顯微分光下廣范圍的光學系統(紫外至近紅外)

              區域傳感器的安全機制

              易于分析向導,初學者也能夠進行光學常數分析

              獨立測量頭對應各種inline客制化需求

              支持各種自定義

              測量項目:

              i對反射率測量

              多層膜解析

              光學常數分析(n:折射率,k:消光系數)



              大塚電子(蘇州)有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢!


              膜厚儀測試時有關輻射安全注意事項

              幅射安全方面膜厚儀由于使用X射線管而產生輻射。測量頭的設計完全符合國際X射線安全要求:  ·測量頭控制臺上的一個鑰匙開關通過打開或關閉X射線管上的高壓決定X幅射的產生與否;  ·一個多級故障自動保險互鎖系統可控制X幅射的產生,從而有效保護操作者的安全;  ·如果測量門沒有完全關閉,X幅射就不會進入測量室;  ·足夠的遮罩用來減小外部的幅射量。



              影響膜厚儀測量的的客觀因素

              耦合劑對膜厚儀的影響。耦合劑是用來排除探頭和被測物體之間的空氣,使超聲波能有效地穿入工件達到檢測目的。如果選擇種類或使用方法不當,將造成誤差或耦合標志閃爍,無法測量。因根據使用情況選擇合適的種類,當使用在光滑材料表面時,可以使用低粘度的耦合劑;當使用在粗糙表面、垂直表面及頂表面時,應使用粘度高的耦合劑。