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BGA的全稱Ball Grid Array（焊球陣列封裝），它是在封裝體基板的底部制作陣列焊球作為電路的I/O端與印刷線路板（PCB）互接。采用該項技術封裝的器件是一種表面貼裝器件。

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BGA技術的研究始于60年代，早被美國IBM公司采用，但一直到90年代初，BGA 才真正進入實用化的階段。

在80年代，人們對電子電路小型化和I/O引線數提出了更高的要求。雖然SMT使電路組裝具有輕、薄、短、小的特點，對于具有高引線數的精細間距器件的引線間距以及引線共平面度也提出了更為嚴格的要求，但是由于受到加工精度、可生產性、成本和組裝工藝的制約，一般認為QFP(Quad Flat Pack 方型扁平封裝)器件間距的極限為0.3mm，這就大大限制了高密度組裝的發 展。但因NTC熱敏電阻對溫度很敏感，故測試時應注意以下幾點：ARt是生產廠家在環境溫度為25℃時所測得的，所以用萬用表測量Rt時，亦應在環境溫度接近25℃時進行，以保證測試的可信度。另外，由于精細間距QFP器件對組裝工藝要求嚴格，使其應用受到了限制，為此美國一些公 司就把注意力放在開發和應用比QFP器件更優越的BGA器件上。

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焊料的數量以及它在連接點的分布情況，通過在BGA連接點的二個或更多個不同的高度 (例如：在印制電路板焊盤接觸面，在元器件接觸面，或者在元器件和印刷電路板之間的一半高度)所產生的橫截面圖像或者“水平切片”予以直接測量，再結合同類BGA連接點的多次切片測量，能夠有效地提供三維測試，可以在對BGA連接點不進行物理橫截面*作的情況下進行檢測。根據測出的電阻值大小，可具體分下述三種情況進行鑒別：A被測色碼電感器電阻值為零，其內部有短路性故障。

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超過三個圖像切片就能夠獲得不可拆BGA的焊接點情況，“印刷電路權焊料切片”中心定位于印刷電路板焊盤界面上，低共熔點焊料焊接輪廓內，“焊料球切片”中心定位引線焊球(lead solder ball)內，“元器件焊盤切片”中心定位于元器件界面的低共熔點焊料焊接輪廓線內。可拆卸BGA焊接點，通過兩個或者更少的圖像“切片”就可以反映其全部特征，圖像“切片”中心可以定價于印刷電路板的焊盤界面處，也可以是在元器件界面處或者僅僅是在元器件和印刷電路板之間的一半位置處。晶體二極管晶體二極管在電路中常用“D”加數字表示,如:D5表示編號為5的二極管。