電鍍膜厚儀多重優惠,一六儀器

     江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發、生產、銷售的高新技術企業。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區。我們專業的研發團隊具備十年以上的從業經驗，經與海內外多名通力合作，研究開發出一系列能量色散X熒光光譜儀

     X射線熒光光譜測厚儀原理

    一個內層電子而出現一個空穴，使整個原子體系處于不穩定的激發態，激發態原子壽命約為 (10)-12-(10)-14s，然后自發地由能量高的狀態躍遷到能量低的狀態。這個過程稱為馳豫過程。通過測角器以1∶2速度轉動分析晶體和探測器，可在不同的布拉格角位置上測得不同波長的X射線而作元素的定性分析。馳豫過程既可以是非輻射躍遷，也可以是輻射躍遷。當較外層的電子躍遷到空穴時，所釋放的能量隨即在原子內部被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，此稱為俄歇效應，亦稱次級光電效應或無輻射效應，所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。

     它的能量是特征的，與入射輻射的能量無關。當較外層的電子躍入內層空穴所釋放的能量不在原子內被吸收，而是以輻射形式放出，便產生X射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。5彩色CCD，變焦功能對焦方式高敏感鏡頭，手動對焦放大倍數：光學38-46X，數字放大40-200倍隨機標準片：十二元素片、Ni/Fe5um、Au/Ni/Cu0。因此，X射線熒光的能量或波長是特征性的，與元素有一一對應的關系。 K層電子被逐出后,其空穴可以被外層中 任一電子所填充，從而可產生一系列的譜線，稱為K系譜線:由L層躍遷到K層輻射的X射線叫Kα射線,由M層躍遷到K層輻射的X射線叫Kβ射線……。

      X射線熒光測厚儀操作注意事項：

測厚儀操作時候需要注意的：

技術指標：

1 分析元素范圍：Cl（17）-U（92）

2 同時可分析多達5層鍍層以上

3 分析厚度檢出限高達0.01μm

4 多次測量重復性高可達0.01μm

5測量時間：5s-300s

6 計數率：0-8000cps

測厚儀操作流程

打開儀器開關----在電腦上開啟軟件-------開高壓鑰匙-------聯機------預熱-----峰位校正------新建程式------選擇相應的程式-----測試樣品----出報告

江蘇一六儀器    X射線熒光鍍層測厚儀 為大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析提供解決方案

X射線熒光光譜測厚儀操作流程:

1.打開儀器電源 開關

2.打開測試軟件

3.聯機

4.打開儀器高壓鑰匙，觀察軟件界面管流值不為0值且正常上升至1000左右

5.待機30分鐘

6.打開測試腔放入標準元素片Ag，通過調整移動平臺滑軌和焦距旋鈕使軟件測試畫面清晰

7.點擊峰位校正圖標按照提示進行操作

8.根據已知樣品信息新建（或選擇）合適的產品程式

9.點擊資料圖標，根據客戶需求調整相關測量參數

10.放置樣品：打開測試腔，將樣品需要測試的一面大致朝向測試窗，邊觀察軟件測試畫面邊通過移動平臺滑軌微調測試位置

進而達到測試要求位置

11.調整焦距：使用儀器左側焦距調整旋鈕，使得軟件測試畫面盡可能清晰

12.開始測量：點擊開始測試圖標，進行樣品測試或者按動儀器前面板測試按鈕進行樣品測試

13.數據報告：對測量的數據結果進行對比和分析，判斷數據是否正常，若出現異常可進行多次測量排除偶然誤差

14.生成報告：點擊預覽報告可以對測試報告內容和格式進行調整，還可以電子版保存報告和直接打印紙質報告

15.整理反饋：對測試結果進行分析和整理，可通過給出測試報告的形式與客戶進行溝通和反饋