FE3000廠家歡迎來電 大塚電子有限公司

FE3000反射式膜厚量測儀：原理為：利用單色儀和氙燈的組合可實現任意波段的激發光并以此來照射熒光材料樣品，再以光譜儀對產生的發光光譜進行測試并對其熒光材料特性做出評價。本系統采用了具有高靈敏度、高穩定的本公司的光譜儀對光譜進行測量。

應用范圍■ FPD

?LCD、TFT、OLED(有機EL)

■ 半導體、復合半導體

?矽半導體、半導體雷射、強誘電、介電常數材料

■ 資料儲存

?DVD、磁頭薄膜、磁性材料

■ 光學材料

?濾光片、抗反射膜

■ 平面顯示器

?液晶顯示器、薄膜電晶體、OLED

■ 薄膜

?AR膜

■ 其它

?建筑用材料

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

石英材質液體比色皿，光學透過率大于98%，全波段無熒光反應，用于液體樣品測試（3個）。尺寸：12.5mm*12.5mm*140mm

電腦裝有Windows XP Professional或Windows 7作為操作系統，考慮到網絡安全和病毒的防止，將安裝諾頓網絡安全特i警或諾頓反病毒軟件。本程序從安裝日開始計算，在連接網絡的情況下可維持1年的i新狀態。之后如要更新，請自行購買。   主要測試項目：量子效率測定，量子效率的激發波長依賴特性，發光光譜、反射光譜測定，透過、吸收光譜測量，PL激發光譜，顏色演算（色度、色溫、演色性等）

本儀器是一套使用積分半球對薄膜狀樣品或粉狀物樣品進行量子效率測試的系統。

     原理為：利用單色儀和氙燈的組合可實現任意波段的激發光并以此來照射熒光材料樣品，再以光譜儀對產生的發光光譜進行測試并對其熒光材料特性做出評價。本系統采用了具有高靈敏度、高穩定的本公司的光譜儀對光譜進行測量。

光纖在極度彎曲后會有可能發生斷裂。故,請將彎曲半徑保持在10cm以上(即:不要過于折疊光纖,以免損壞).將樣品放入樣品放置cell內，然后放入積分半球內。