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發布時間:2021-07-26 07:51  
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(1)對工藝缺陷的覆蓋率高達97%??蓹z查的缺陷包括:虛焊、橋連、碑立、焊料不足、氣孔、器件漏裝等等。尤其是X-ray對BGA、CSP等焊點隱藏器件也可檢查。
(2)較高的測試覆蓋度??梢詫θ庋酆驮诰€測試檢查不到的地方進行檢查。比如PCBA被判斷故障,懷疑是PCB內層走線斷裂,X-ray可以很快地進行檢查。
(3)測試的準備時間大大縮短。
(4)能觀察到其他測試手段無法可靠探測到的缺陷,比如:虛焊、空氣孔和成型不良等。

通過客戶提供的測試樣品,對樣品特定位置上使用X-RAY射線進行檢測試驗。通過X-RAY射線分析評估氣泡的大小和位置,線路板等內部位移的分析;判別空焊,虛焊等焊接缺陷。
X射線是一種波長很短的電磁波,波長范圍為0.0006一80nm,具有很強的穿透力,能穿透一般可見光不能穿透的各種不同密度的物質。
測試步驟:確認樣品類型/材料的測試位置和要求→將樣品放入X-Ray的檢測臺→圖片判斷分析→標注缺陷類型和位置。但是由于材料性質,設備會受到一定的限制,如IC封裝中是鋁線或材料材質密度較低會被穿透而無法檢查。