徐州光譜測厚儀的用途和特點 一六儀器

X射線熒光光譜法原理研究

一六儀器  光譜測厚儀研發生產廠家  一六儀器一liu品質,可同時檢測多層材料鍍層厚度(含有機物)及成分.操作簡單方便.厚度含量測試只需要幾秒鐘,多小多復雜的樣品輕松搞定,歡迎來電咨詢!

X射線

   德國物理學家倫琴在研究稀薄氣體放電實驗時，采用了一種特殊裝置，此裝置發射電子，在陰極相對的位置裝置金屬陽極，在陰陽兩極之間加以高電壓，當容器充有稀薄氣體時，氣體中可觀察到放電現象，試驗中發現的這種未知射線，倫琴命名為X射線。對X射線定義為：電子在原子核附近加速或核外內層電子能級間發生躍遷時所發射的電磁輻射。另外,被測量的物體,可能會上下跳動,偏離測量時的位置,這種傾斜也會影響測量的精度。

X射線熒光的基本原理

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X射線熒光是由原級X射線照射待測樣品時所產生的次級X射線，入射的X射線具有相對較大的能量，使其可以轟擊出位于元素原子內層中的電子。X射線熒光光譜的波長在0.01-10納米之間，能量在124KeV-0.124KeV之間。用于元素分析中的X射線熒光光譜波長的范圍在0.01-11納米之間，能量為0.111-0.124KeV。測厚儀，英文名稱為thicknessgauge，是一類用來測量材料及物體厚度的儀表，在工業生產中常用來連續或抽樣測量產品的厚度。

   當X射線激發出試樣特征X射線時，其入射電磁輻射能量必須大于某一個值才能引起其內層電子激發態從而形成空穴并引起電子的躍遷，這個值是吸收限，相當于內層電子的功函數。如果入射電磁輻射的能量低于吸收限則在任何情況下都不能激發原子內層電子并產生特征X射線。儀器規格：外形尺寸：550mmx660mmx470mm（長x寬x高）樣品倉尺寸：500mm×660mm×215mm（長x寬x高）儀器重量：55kg供電電源：交流220±5Vzuida功率：330W環境溫度：15℃-30℃環境相對濕度：<。

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性能優勢：

  下照式設計：可以快速方便地定位對焦樣品。

  無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm。

  微聚焦射線裝置：可檢測面積小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件。

  率的jie shou qi ：即使測試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達到穩定性。

  精密微型滑軌：快速精準定位樣品。

  EFP先進算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

測厚儀和膜厚儀一樣嗎

  測厚儀和膜厚儀是不一樣的，膜厚儀屬于測厚儀的分類，也就是說測厚儀是膜厚儀的上司一樣，對此我們也可以來了解下測厚儀跟膜厚儀的一些概念：

測厚儀：凡能使超聲波以一恒定速度在其內部傳播的各種材料均可采用此原理測量，如金屬類、塑料類、陶瓷類、玻璃類。可以對各種板材和加工零件作準確測量，另一重要方面是可以對生產設備中各種管道和壓力容器進行監測，監測它們在使用過程中受腐蝕后的減薄程度。廣泛應用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個領域。無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm。