大塚rets-100承諾守信【大塚電子】

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

RETS-100閃電發貨OTSUKA相位差/光學材料量測設備,日本大塚電子；

FPD相關的檢查和評價設備：

動態畫面反應時間檢測儀：MPRT-2000,

相位差/光學材料量測設備：RETS-100,

發貨OTSUKA,日本大塚電子液晶顯示器LCD面板LCD-5200；

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產品特點：可更加精準的量測低相位差(0.1nm～)適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角(光學軸)或角度配向性等光學膜偏光特性的裝置。檢測器采用多頻譜分光光譜儀，展現任一個波長的相位差量測。可選配傾斜式、旋轉式量測平臺，評估三次元折射率參數分析等眼簾角特性。共同量測樣品，從容架構量測平臺。

 偏光計測模組是用CCD camera的1shot來獲取多角度的偏光強度pattern，因與以往的偏光計測裝置相比，其無偏光子回旋機構，故其可維持其的測定及穩定的性能。用基準Sample實施設備，偏光prism unit的角度校正和基準Sample自身的Retardation測量。此外，反射用偏光子的角度校正可同時進行。

本裝置是photonic結晶偏光子arrayh和CCD camera構成的專用偏光計測模組和透過偏光光學系相結合進行測定橢圓率，方位角、從偏光film.位相差film貼合品的兩面之測定，進而演算其吸收軸，光軸，相對角、RE的裝置。

  本設備是利用瞬間多通道測光光譜儀以及偏光光學系高速測量透過型封入完成后的LCD Cell（TN,IPS,MVA）的Gap以及Pre-tilt角。附有自動XY-stage以及自動傾斜旋轉stage的2個Sample stage。Calibration時，自動set基準sample。