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發(fā)布時(shí)間：2020-12-02 05:02
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一六儀器 專業(yè)測厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法 X射線熒光鍍層測厚儀
應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題
能量色散X熒光光譜儀定義及原理
X射線熒光光譜儀是一種可以對多元素進(jìn)行快速同時(shí)測定的儀器。試樣受X射線照射后，其中各元素原子的內(nèi)殼層（K，L或M層）電子被激發(fā)逐出原子而引起電子躍遷，并發(fā)射出該元素的特征X射線熒光。每一種元素都有其特定波長的特征X射線。002um~100um左右，能測試5層以上膜厚，并且可以測量合金鍍層，也可分析鍍層元素和含量比。能散型X射線熒光光譜儀（EDXRF）利用熒光X射線具有不同能量的特點(diǎn)，由探測器本身的能量分辨本領(lǐng)來分辨探測到的X射線。
鍍層厚度分析儀的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。
X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆
層測厚時(shí)采用。
江蘇一六儀器 X射線熒光光譜儀XTU/X-RAY系列
技術(shù)參數(shù)
X射線裝置：W靶微聚焦加強(qiáng)型射線管
準(zhǔn)直器φ 0.05 mm ；φ 0.1 mm；φ 0.2 mm；φ 0.5 mm； 準(zhǔn)直器任意選擇或者任意切換
近測距光斑擴(kuò)散度：9%
測量距離：具有距離補(bǔ)償功能，可改變測量距離，能測量凹凸異型樣品，變焦距離0-30mm(特殊要求可以升級到90mm)
樣品觀察：1/2.5彩色CCD，變焦功能對焦方式高敏感鏡頭，手動(dòng)對焦
放大倍數(shù)：光學(xué)38-46X，數(shù)字放大40-200倍
隨機(jī)標(biāo)準(zhǔn)片：十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um
其它附件：聯(lián)想電腦一套、噴墨打印機(jī)、附件箱
