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Altium中與高速信號等長相關的規則主要有parallelsegment（平行走線限制）、Length（長度）、MatchedLengths(長度匹配)，這三個規則在HighSpeed下面。三個相關規則parallelsegment（平行走線限制）規則的使用PCB不同的走線層一般需要保持布線方向相互垂直。但是實際工作中會無法避免地出現走線平行的情況，尤其是BGA封裝器件周圍。由平行板電容器的原理可以知道，兩個導體正對面積越大，電容越大。因此，相鄰層的兩條導線重疊時會在兩條銅線上構成一個電容。這個電容的存在，會造成信號間串擾，嚴重時電路不能正常工作。在PCB布線之前設置好parallelsegment規則可以避免這類錯誤。下面以兩條不同層的信號線為例演示：1.首先在parallelsegment下面新建一個規則。

例如，我們可以這樣設置參數。邊緣間距0mil,蕞大平行長度200mil.平行的走線設置規則完成后可以看到，違反平行走線規則的導線已經出現DRC錯誤。這樣，我們就可以及時發現并修正錯誤。注意，在參數界面里把這一項規則的顯示打開，才可以實時看見平行走線的DRC錯誤。2.Length（長度）規則長度規則用來限制信號線的長度。防止信號線長度過長。如圖所示設置，可以把DDR的netclass布線長度限制在400-500mil，在范圍之外將會產生DRC錯誤。3.MatchedLengths(長度匹配)規則首先可以設置等長誤差、組內等長、差分線等長。針對某個網絡類進行規則設置。設置完成后，在繞線時軟件會自動滿足長度誤差。

AOI產品廣泛應用于智能終端、可穿戴設備、電信網絡、航空航天、汽車電子等各個領域，為客戶提供高檢出、低誤報、簡單易用、功能強大的視覺檢查系統。

近年來軟件方面, 使用了很多電路板圖像的檢測算法, 這些算法大致可分為三大類: 有參考比較算法、無參考校驗法以及混合型算法。有參考比較算法分為兩大類, 圖像對比法和模型對比法。這類方法算法簡單, 容易實現, 但是它不容易檢測線寬、線距違例等瑕疵。無參考校驗法不需要任何參考圖象, 它依據預先定義的 PCB 的設計規則來判斷待檢 PCB 圖象是否有瑕疵, 如果它不符合設計規則, 就認為有瑕疵, 因此也稱為設計規則校驗法。這類方法雖然在榆測線寬、線距違例這類瑕疵時能夠收到很好的效果, 但是其算法復雜, 運算量很大, 而且易漏柃線、焊盤丟失等大瑕疵。混合型方法是將有參考比較算法與無參考校驗法混合使用, 在一定程度上克服了前兩類方法的缺點,從而發揮它們各自的優點。比如, 模板匹配法與數學形態學方法結合使用, 或者連接表方法與數學形態學方法結合使用等。但當前這種方法還不足很成熟, 其算法復雜, 不能滿足實時檢測的要求, 且自適應性不夠, 系統擴展能力差。當前 AOI 檢測系統圖像處理基本上采用的是參考算法, 國外進口品牌大多使用圖像匹配、法則判別登多種組合手段。

雙面混裝：來料檢測 PCB的B面絲印錫膏（紅膠） 貼片 B面回流(固化) 清洗 翻板 A面絲印錫膏（紅膠） 貼片 B面回流(固化)或是(DIP 波峰) 清洗 檢測 返修，絲印：其作用是將焊膏或貼片膠漏印到PCB的焊盤上，為元器件的焊接做準備。所用設備為絲印機（絲網印刷機），位于SMT生產線的前端。點膠：它是將膠水滴到PCB的的固定位置上，其主要作用是將元器件固定到PCB板上。所用設備為點膠機，位于SMT生產線的前端或檢測設備的后面。