常州3D形貌測量儀價格廠家供應「蘇州盟訊電子」

光學影像測量儀檢測是一種常見測量技術，通過提供了量化的圖像測量方式，獲得測量數據，從而對零部件公差尺寸進行把控，是機械、電子制造業，計量測試所廣泛使用的一種多用途計量儀器。

影像測量儀的誤差來源有哪些呢？ （1）光柵尺記數的偏差; （2）操作臺挪動時存有的平行度、角擺產生的偏差; （3）操作臺兩精l確測量軸平整度帶的偏差; （4）攝像鏡頭直線光軸與操作臺不垂直帶的偏差; （5）精l確測量工作溫度轉變產生的偏差; （6）燈源照明燈具標準的轉變產生的自動對焦和指向偏差。

蘇州盟訊電子有限公司專注于光學微結構熱壓設備，工藝及服務，公司擁有設計經驗8年 /工藝經驗5年 ，以其自主研發，技術創新，不斷推新導光膜卷/片材熱壓設備﹑同時適用于LED導光板/擴散板/PS/PMMA/照明/面板/燈飾/燈箱/電視TV等納米導光板片材熱壓設備﹑激光鐳射/金屬雕刻機，不銹鋼板雕刻激光設備，304不銹鋼板,8/10/12K，進口日料超鏡面覆膜不銹鋼板/帶，等一系列光學膜周邊配套設備及周邊輔材，并提供相關生產工藝及生產材料的整體解決方案，現

三維表面形貌儀的特性：     1、采用白光軸向色像差技術，可獲得納米級的分辨率     2、測量具有非破壞性，測量速度快，度高     3、測量范圍廣，可測透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋光、粗糙材料(金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發、牙齒…)；     4、尤其適合測量高坡度高曲折度的材料表面     5、不受樣品反射率的影響     6、不受環境光的影響     7、測量簡單，樣品無需特殊處理     8、Z方向測量范圍為27mm


一、三維表面形貌儀測量原理：低相干白光同時照射樣品和參考平面，被樣品和參考平面反射的兩束白光發生干涉后由陣列式CMOS探測器接收，由于探測器直接與信號處理芯片（Smart Pixel技術）連接，所以陣列上每個像素點的信號都在芯片中完成鎖相放大，背景信號補償和結果計算輸出，成像于計算機就實現了樣品表面的快速三維形貌測量。    二、三維表面形貌儀技術特點：    1、每秒一百萬張二維圖像    2、無損表面形貌檢測和分析    3、高精度在線/離線檢測    4、模塊化設計，超高集成靈活性    5、無需苛刻的工作環境（振動，噪聲，溫度等）    6、可應用于科研和工業領域