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              煙臺涂層測厚儀多重優(yōu)惠,一六儀器有限公司

              發(fā)布時間:2020-12-02 10:40  

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              江蘇一六儀器   X熒光鍍層測厚儀  一六儀器、一liu品質!各種涂鍍層、膜層的檢測難題歡迎咨詢聯(lián)系!

              1X射線激發(fā)系統(tǒng)垂直上照式X射線光學系統(tǒng)空冷式微聚焦型X射線管,Be窗標準靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-標準75W(4-50kV,0-1.5mA)-任選X射線管功率可編程控制裝備有安全防射線光閘

              2濾光片程控交換系統(tǒng)根據(jù)靶材,標準裝備有相應的一次X射線濾光片系統(tǒng)二次X射線濾光片:3個位置程控交換,Co、Ni、Fe、V等多種材質、多種厚度的二次濾光片任選位置傳感器保護裝置,防止樣品碰創(chuàng)探測器窗口

              3準直器程控交換系統(tǒng)多可同時裝配6種規(guī)格的準直器,程序交換控制多種規(guī)格尺寸準直器任選:-圓形,如4、6、8、12、20mil等-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

              4測量斑點尺寸在12.7mm聚焦距離時,測量斑點尺寸小至為:0.078x0.055mm(使用0.025x0.05mm準直器)在12.7mm聚焦距離時,測量斑點尺寸大至為:0.38x0.42mm(使用0.3mm準直器)

              5X射線探測系統(tǒng)封氣正比計數(shù)器裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路

              6樣品室CMI900CMI950-樣品室結構開槽式樣品室開閉式樣品室-樣品臺尺寸610mmx610mm300mmx300mm-XY軸程控移動范圍標準:152.4x177.8mm任選:50.8mmx152.4mm50.4mmx177.8mm101.6x177.8mm177.8x177.8mm610mmx610mm300mmx300mm-Z軸程控移動高度43.18mmXYZ程控時,152.4mmXY軸手動時,269.2mm-XYZ三軸控制方式多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制


                 江蘇一六儀器有限公司  專業(yè)鍍層測厚檢測   歡迎來電詳詢! 

                X射線熒光光譜分析可以非破壞性同時完成組分和厚度測試,厚度的測量范圍視材料和元素而定,通常在1nm-50um之間。X射線熒光光譜法分析鍍層與其常規(guī)定量分析法相比較,被測元素的特征X射線熒光強度不僅與鍍層中待測元素和基材的組成有關,而且與厚度直接相關。通過定標器的脈沖分析信號可以直接輸入計算機,進行聯(lián)機處理而得到被測元素的含量。能量色散X射線熒光光譜分析相對其他分析方法,具有無需對樣品進行特別的化學處理、快速,方便,測量成本低等明顯優(yōu)勢,特別適合用于各類相關企業(yè)作為過程控制和檢測使用。是目前應用為廣泛,具有速度快、無損化以及可實現(xiàn)多鍍層同時分析等特點。


              一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團隊 集研發(fā)生產銷售一體

              元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機物

              一次可同時分析:23層鍍層,24種元素   厚度檢出限:0.005um

                   

              江蘇一六儀器   X射線熒光光譜測厚儀在電鍍行業(yè)的應用

                   由于每一種元素的原子能級結構都是特定的,它被激發(fā)后躍遷時放出的X射線的能量也是特定的,稱之為特征X射線。通過測定特征X射線的能量,便可以確定相應元素的存在,而特征X射線的強弱(或者說X射線光子的多少)則代表該元素的含量或厚度。

                    PCB線路板主要有鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍銀,鍍錫等種類。其電鍍工藝流程如下:

              浸酸→全板電鍍銅→圖形轉移→酸性除油→二級逆流漂洗→微蝕→二級浸酸→鍍錫→二級逆流漂洗→浸酸→圖形電鍍銅→二級逆流漂洗→鍍鎳→二級水洗→浸檸檬酸→鍍金→回收→2-3級純水洗→烘干。

                    對于PCB生產企業(yè)來說,厚度的有效控制能做到有效的節(jié)約成本,又能滿足客戶需求,做到耐氧化、耐磨等。而X射線熒光鍍層測厚法是PCB工業(yè)檢測電鍍厚度的有效手段。下面介紹一款x射線熒光膜厚測厚儀XTU-BL。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時,儀器自動輸出測試電流或測試信號。利用XRF無損分析技術檢測鍍層厚度的儀器就叫X射線測厚儀,又膜厚測試儀,鍍層檢測儀,XRF測厚儀,PCB鍍層測厚儀,金屬鍍層測厚儀等。X射線能同時實現(xiàn)多鍍層厚度分析。在實際應用中,多采用實際相近的鍍層標注樣品進行比較測量(即采用標準曲線法進行對比測試的方法)來減少各層之間干擾所引起的測試精度問題。



              江蘇一六儀器   X射線熒光光譜測厚儀    一次性同時分析:23層鍍層,24種元素

                                                                    厚度di檢出限:0.005um

              性能優(yōu)勢

              精密的三維移動平臺

              的樣品觀測系統(tǒng)

              先進的圖像識別

              輕松實現(xiàn)深槽樣品的檢測

              四種微孔聚焦準直器,自動切換

              雙重保護措施,實現(xiàn)無縫防撞

              采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度

              全自動智能控制方式,一鍵式操作!

              開機自動退出自檢、復位

              開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣

              關蓋推進樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦

              直接點擊全景或局部景圖像選取測試點

              點擊軟件界面測試按鈕,自動完成測試并顯示測試結果




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