膜厚測(cè)試儀歡迎來(lái)電

能量色散X射線熒光光譜儀技術(shù)原理

江蘇一六儀器  國(guó)內(nèi)外通力合作打造高性價(jià)比X熒光測(cè)厚儀 穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專(zhuān)利獨(dú)特聚焦和變距設(shè)計(jì),多元EFP算法,簡(jiǎn)便快速測(cè)試各種涂鍍層的厚度及成分比例

能量色散X射線熒光光譜儀主要由激發(fā)、色散、探測(cè)、記錄及數(shù)據(jù)處理等單元組成。激發(fā)單元的作用是產(chǎn)生初級(jí)X射線。

它由高壓發(fā)生器和X光管組成。后者功率較大，用水和油同時(shí)冷卻。色散單元的作用是分出想要波長(zhǎng)的X射線。它由樣品室、狹縫、測(cè)角儀、分析晶體等部分組成。

能量色散X射線熒光光譜儀技術(shù)原理

能量色散X射線熒光光譜儀是一種波長(zhǎng)較短的電磁輻射，凡間是指能t局限在0.1^-100keV的光子。能量色散X射線熒光光譜儀與物質(zhì)的互相效果首要有熒光、接收和散射三種。

能量色散X射線熒光光譜儀是由物質(zhì)中的構(gòu)成元素發(fā)生的特征輻射，經(jīng)過(guò)側(cè)里和剖析樣品發(fā)生的x射線熒光，即可獲知樣品中的元家構(gòu)成，獲得物質(zhì)成分的定性和定量信息。

一六儀器---鍍層測(cè)厚儀|光譜測(cè)厚儀|X-ray測(cè)厚儀|X熒光測(cè)厚儀|凃?qū)幽ず駜x

儀器規(guī)格：

 外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （長(zhǎng)x寬x高）

 樣品倉(cāng)尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （長(zhǎng)x寬x高）

 儀器重量 ：55kg

 供電電源 ：交流220±5V

 da功率 ：330W

 環(huán)境溫度：15℃-30℃

 環(huán)境相對(duì)濕度：<70%

X射線測(cè)厚儀測(cè)量精度的影響因素有哪些

第四,在生產(chǎn)過(guò)程中,補(bǔ)償值也會(huì)對(duì)X射線測(cè)厚儀的測(cè)量精度造成影響。我們利用測(cè)厚儀測(cè)量是,會(huì)事先給測(cè)厚儀輸入一個(gè)補(bǔ)償值,讓測(cè)量值與實(shí)際值相等。江蘇一六儀器國(guó)內(nèi)外通力合作打造高性價(jià)比X熒光測(cè)厚儀穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專(zhuān)利獨(dú)特聚焦和變距設(shè)計(jì),多元EFP算法,簡(jiǎn)便快速測(cè)試各種涂鍍層的厚度及成分比例能量色散X射線熒光光譜儀主要由激發(fā)、色散、探測(cè)、記錄及數(shù)據(jù)處理等單元組成。在這個(gè)過(guò)程中,操作者首先對(duì)板材進(jìn)行測(cè)量,但是操作者使用量尺的方式不同,就會(huì)造成補(bǔ)償值的大小不等,會(huì)形成人為的誤差。只有在進(jìn)行測(cè)量時(shí),操作者認(rèn)真操作,減少補(bǔ)償值得測(cè)算誤差,使補(bǔ)償值接近真實(shí)值,提高X射線測(cè)厚儀的測(cè)量精度。 

一六儀器---鍍層測(cè)厚儀|光譜測(cè)厚儀|X-ray測(cè)厚儀|X熒光測(cè)厚儀|凃?qū)幽ず駜x

性能優(yōu)勢(shì)：

下照式設(shè)計(jì)：可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。

無(wú)損變焦檢測(cè):可對(duì)各種異形凹槽進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，凹槽深度范圍0-90mm。

微聚焦射線裝置：可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品，可測(cè)試各微小的部件。

精密微型滑軌：快速精準(zhǔn)定位樣品。

EFP先進(jìn)算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

如何安裝X射線測(cè)厚儀

2) C型架按運(yùn)行軌跡定位，并作感觀質(zhì)量檢查。

   3) C型架落入導(dǎo)軌后，就進(jìn)行冷卻水管、壓縮空氣的軟管及同軸電纜的連接。上述軟管及電纜應(yīng)順著撓性履帶的走向固定牢固。

   4) 儀表柜、主控臺(tái)，就地控制箱和前置放大器箱的安裝，根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)施工條件分頭進(jìn)行吊裝。

   5) 電纜敷設(shè)，除同軸電纜外還包括控制系統(tǒng)電纜和測(cè)量信號(hào)系統(tǒng)電纜。

X射線熒光的基本原理

一六儀器X射線熒光測(cè)厚儀 研發(fā)生產(chǎn)廠家 品質(zhì)保證

江蘇一六儀器有限公司研發(fā)的能量色散X熒光光譜儀具有穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析，歡迎來(lái)電咨詢！

當(dāng)X射線激發(fā)出試樣特征X射線時(shí)，其入射電磁輻射能量必須大于某一個(gè)值才能引起其內(nèi)層電子激發(fā)態(tài)從而形成空穴并引起電子的躍遷，這個(gè)值是吸收限，相當(dāng)于內(nèi)層電子的功函數(shù)。高精度測(cè)厚儀,多薄多復(fù)雜組合的鍍層分析,一六儀器研發(fā)生產(chǎn)的儀器都能滿足您的使用。如果入射電磁輻射的能量低于吸收限則在任何情況下都不能激發(fā)原子內(nèi)層電子并產(chǎn)生特征X射線。

X射線的激發(fā)

   如果要得到某元素的特征X射線，需要對(duì)元素原子內(nèi)層電子進(jìn)行激發(fā)，使得內(nèi)層電子獲得一定能量，能夠脫離原子核的束縛，從而在內(nèi)層軌道形成電子空穴，當(dāng)較高能級(jí)電子填補(bǔ)這一空穴時(shí)，才會(huì)發(fā)射一定能量的特征X射線，這個(gè)過(guò)程就是X射線的激發(fā)。