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發布時間:2020-12-26 03:15  
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華科智源IGBT測試儀針對 IGBT 的各種靜態參數而研制的智能測試系統;400~20000nCtd(on)、td(off)開通/關斷延遲 10~1000ns 10~200±2%±2ns。自動化程度高(按照操作人員設定的程序自動工作),計算機可以記錄測試結果,測試結果可轉化為文本格式存儲,測試方法靈活(可測試器件以及單個單元和多單元的模塊測試),安全穩定(對設備的工作狀態進行全程實時監控并與硬件進行互鎖),具有安全保護功能,測試速度方便快捷。

如何執行導通參數與漏電流的量測?
?測試條件中待輸入的數字,必須依照元件生產廠所提供的規格來輸入,而測量結果,亦必須在其所規定的限額內,否則,便為不良品。
大功率I g b t模塊測試系統簡介
我公司所設計生產的半導體元件自動測試系統具備下列測試能力:
☆可單機獨立操作,測試范圍達2000V及50A。
☆外接大電流擴展裝置,檢測范圍可擴展1600A。

3.6 VCES 集射極截止電壓 0~5000V 集電極電流ICES: 0.01~1mA±3%±0.001mA; 1~10mA±2%±0.01mA; 10~50mA±1%±0.1mA; 集電極電壓VCES: 0-5000V±1.5%±2V; * 3.7 ICES 集射極截止電流 0.01~50mA 集電極電壓VCES: 50~500V±2%±1V; 500~5000V±1.5%±2V; 集電極電流ICES: 0.001~1mA±3%±0.001mA; 1~10mA±2%±0.01mA; 10~150mA±1%±0.1mA; * 3.8 VCE(sat) 飽和導通壓降 0.001~10V 集電極電流ICE: 0-1600A 集電極電壓VCEs: 0.001~10V±0.5%±0.001V 柵極電壓Vge: 5~40V±1%±0.01V 集電極電流ICE: 0~100A±1%±1A; 100~1600A±2%±2A; * 3.9 Iges 柵極漏電流 0.01~10μA 柵極漏電流IGEs: 0.01~10μA±2%±0.005μA 柵極電壓Vge: ±1V~40V±1%±0.1V;1 機臺可測試器件類型 二極管、MOSFET、IGBT單管及模組 * 3。 Vce=0V; * 3.10 VF 正向特性測試 0.1~5V 二極管導通電壓Vf: 0.1~5V±1%±0.01V 電流IF: 0~100A±2%±1A; 100~1600A±1.5%±2A;
