電感耦合等離子體發射光譜儀價格免費咨詢,鋼研納克

鋼研納克國產ICP-MS PlasmaMS 300

 優勢1——的四極桿電源驅動技術

DDS變頻技術

自動頻率匹配調諧，無需手動調電容，更安全

沒有機械電容部件，擁有的穩定性、抗震動，無需經常校準質量軸

專利：《 一種用于四級桿質譜儀的射頻電源》201610006009.2

PlasmaMS 300 優勢2——的真空控制系統

先進的緩沖技術，機械泵間斷運行，儀器待機功耗極低

解決高真空腔體被機械泵油氣污染問題，保證儀器長時間性能穩定

受專利保護《一種電磁閥緩沖、無返油渦輪分子泵抽真空系統》ZL2017 20926451.7

電感耦合等離子體質譜法測定地質樣品中的銣

銣屬稀散元素，在、航空航天、生物工程技術、醫學、能源和環境科學等領域有廣泛的應用［1］。銣量的檢測可為地質找礦、選礦冶金、材料加工等行業的生產研究以及醫學中疾病的診斷提供重要依據。目前，國內外分 析測試銣的方法主要有原子吸收光譜法'、原子發射光譜法'、X-熒光光譜法叵和中子活化法等，分析對象

涉及環境水樣和生物樣品，對地質礦樣中銣的分析尚鮮見報道。上述方法中除中子活化法外，其他方法的檢出限 均較高?，F普及的原子吸收和發射光譜法分析銣時，須另加入鑭鹽，即便如此，對某些巖石、土壤樣品仍得出較

實際值偏高的結果。中子活化法檢出限雖低，但因儀器十分昂貴且性防護要求極高，使其難以普及。有關熔 融法-電感耦合等離子體質譜分析測試銣［9］的研究已有報道，但熔融法引入了大量鹽類，不利于電感耦合等離子 體質譜儀的測定，且大大影響了分析方法的檢出限。本文提出的酸溶-電感耦合等離子體質譜分析測試銣的方法， 具有準確度和精密度高，檢出限低，干擾少，分析流程簡單快速等特點。

質譜干擾對銣測定的影響

除了基體效應等非質譜干擾外，質譜干擾也是ICP-MS分析常遇到的問題。在ICP-MS分析中，即便極微量的 同量異位素的存在，也會干擾檢測結果。

銣有85Rb和87Rb兩種同位素，85Rb沒有同量異位素，但87Rb有同量異位素87Sr。事實上，地質樣品中常含鍶元素。

由于干擾元素鍶的兩個天然同位素87Sr和88Sr的豐度分別為已知7.02%和82.56%，且88Sr不存在同量異位素 的干擾，所以通過測量88Sr 離子流的強度進而求出87Sr 的離子流強度，然后再從所測得的87處的總離子流強度 中將87Sr 的離子流強度減去，即得87Rb 凈離子流強度。從而得出87Rb的校正公式為凈離子流87Rb=離子流(87Rb 87Sr) -(離子流 88Srx 7.02/82.56 )。

ICP-MS理想的樣品制備應該達到以下幾條標準

? 將固體和液體樣品轉換為澄清溶液

? 完全消解了所有的有機物質

? 保留所有目標檢測元素，并且元素濃度在儀器的檢測范圍內

? 未引入新的干擾離子

? 將樣品的粘度和固體物含量調節到適合分析的范圍

? 確保所有的樣品容器都進行過酸液浸泡的前處理，以保證的檢出限

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