光譜分析儀的用途和特點“本信息長期有效”

一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物

一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um

鍍層厚度分析儀簡介鍍層厚度分析儀又叫涂鍍層測量儀、電鍍層測試儀、防腐層檢測儀、涂鍍層測試儀、涂鍍層測量儀、油漆測厚儀價格、油漆層測厚儀、油漆膜厚儀、鋼結(jié)構(gòu)油漆層測厚儀、鋼板油漆測厚儀、鋼管油漆測厚儀、油漆防腐層測厚儀、油罐防腐層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性涂層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導(dǎo)電覆層的厚度（如：琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。涂鍍層測厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量必不可少的檢測儀器，廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點的需求一次可同時分析多達(dá)五層鍍層度適應(yīng)范圍為15℃至30℃鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）分析含量一般為2ppm到99。

鍍層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品國際化，我國出口商品和涉外項目中，對鍍層厚度有了明確要求。

鍍層厚度分析儀的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。

X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時采用。

隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來引入微機(jī)技術(shù)后，X射線鍍層厚度分析儀向微型、智能、多功能、、實用化的方向進(jìn)了一步。測量的分辨率已達(dá)0.1微米，精度可達(dá)到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器。江蘇一六儀器X射線熒光光譜測厚儀產(chǎn)品配置X光金屬鍍層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置為：X射線管，正比計數(shù)器﹨半導(dǎo)體探測器，高清攝像頭，高度激光，信號檢測電子電路。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗，經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。廣泛應(yīng)用于電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子等制造領(lǐng)域。江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。

熒光X射線的強度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系，據(jù)此，可以進(jìn)行元素量分析。但是由于影響熒光X射線的強度的因素較多，除待測元素的濃度外，儀器校正因子，待測元素X射線熒光強度的測定誤差，元素間吸收增加效應(yīng)校正，樣品的物理形態(tài)（如試樣的均勻性、厚度，表面結(jié)構(gòu)等）等都對定了分析結(jié)果產(chǎn)生影響。由于受樣品的基體效應(yīng)等影響較大，因此，對于標(biāo)注樣品要求很嚴(yán)格，只有標(biāo)準(zhǔn)樣品與實際樣品集體和表面狀態(tài)相似，才能保證定量結(jié)果的準(zhǔn)確性。其電鍍工藝流程如下：浸酸→全板電鍍銅→圖形轉(zhuǎn)移→酸性除油→二級逆流漂洗→微蝕→二級浸酸→鍍錫→二級逆流漂洗→浸酸→圖形電鍍銅→二級逆流漂洗→鍍鎳→二級水洗→浸檸檬酸→鍍金→回收→2-3級純水洗→烘干。

江蘇一六儀器  X射線熒光鍍層測厚儀

      電鍍液測量杯整套含兩個測量杯，可用于多品牌X-RAY測厚儀上使用，高純元素本底提高測量精度和檢出限。電鍍液測試樣品杯，嚴(yán)格控制了容量和溢出物的處理，用來測試溶液中金屬離子的濃度；使用方便簡捷，無污染。

測試膜，又名X射線熒光光譜儀樣品薄膜，邁拉膜，麥拉膜，XRF測試薄膜，XRF樣品膜，樣品薄膜，EDX薄膜，EDX樣品薄膜，ROHS檢測膜，光譜儀樣品薄膜；利用偏壓收集這些電子空穴對，經(jīng)過一系列轉(zhuǎn)換器以后變成電壓脈沖供給多脈沖高度分析器，并計數(shù)能譜中每個能帶的脈沖數(shù)。是應(yīng)用于X熒光光譜儀的用于保留液體、粉末、泥漿或固體樣本在樣本杯內(nèi)的物質(zhì)。專用樣品薄膜是使用方便簡捷，無污染的測試用樣品薄膜，廣泛應(yīng)用于Elite、fischer、牛津、博曼、先鋒、日立、天瑞等各種品牌的EDX/XRF光譜儀。

江蘇一六儀器  專業(yè)涂鍍層研發(fā)、生產(chǎn)、銷售高新技術(shù)企業(yè)。其中穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。

單鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。

雙鍍層：Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。

三鍍層：Au/Ni/Cu/ABS，Au/Ag/Ni/Cu, Au/Ni/Cu/Fe,等等

一、功能

1. 采用 X 射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測量方法滿足

GB/T 16921-2005 標(biāo)準(zhǔn)（等同 ISO3497：2000、 ASTM B568 和 DIN50987）。

2.  鍍層層數(shù)：多至 5 層。

3. 測量點尺寸：圓形測量點，直徑約 0.2—0.8毫米。

4. 測量時間：通常 30 秒。

5. 測量誤差：通常小于 5%，視樣品具體情況而定。

6. 可測厚度范圍：通常 0.01 微米到 30 微米，視樣品組成和鍍層結(jié)構(gòu)而定。