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發布時間：2021-03-22 15:21
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平板探測器與膠片的處理
平板探測器與膠片的處理過程不同，在每次檢測期間，不必更換膠片，僅僅需要幾秒鐘的數據采集，就可以在計算機上觀察到圖像，檢測速度和效率大大高于膠片成像技術。成像質量也比圖像增強器好很多，不僅成像區均勻，沒有邊緣幾何變形，而且空間分辨率和靈敏度要高得多，其圖像質量已接近或達到膠片照相水平。平板探測器是目前市面上X射線檢測設備較多使用的成像組件。適用場景廣泛，可用于離線設備也可用于在線設備，在線使用過程中采用間歇式的檢測方式也可以很好的對接企業產線，提高檢測效率。
調整金屬檢測設備靈敏度時,探測盤(振蕩線圈)應遠離金屬
在使用金屬檢測設備之前，需要調整探桿的長度。只要松開黑色膠管，就把膠管套推拉到合適的長度，然后轉動內膠管使電纜繃緊，手柄向上。后，黑色膠管被擰緊并鎖緊。這樣，當握住探測器手柄時，拇指正好挨著靈敏度調節電位計。調整金屬檢測設備靈敏度時，探測盤（振蕩線圈）應遠離金屬，包括帶鋁箔的紙張，然后旋轉靈敏度微調電位器旋鈕（微調），打開電源開關，將其轉到一半位置。然后調整調諧旋鈕，停止揚聲器的聲音。
極大的工藝缺陷覆蓋范圍自動X射線檢測技術對工藝缺陷的覆蓋率高達97%，同時能觀察到其他測試手段無法可靠探測到的缺陷。較高的測試覆蓋度，自動X 射線檢測技術可以對肉眼和在線測試(ICT)檢查不到的地方進行檢查。X射線可穿過PCB板的基板材料，因此可同時對雙層板或多層板進行檢測，每一層的缺陷便可一目了然，極大地提升了光學檢測效率；
