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數字IC設計流程

1、需求分析與規格制定

對市場調研，弄清需要什么樣功能的芯片。

芯片規格，也就像功能列表一樣，是客戶向芯片設計公司提出的設計要求，包括芯片需要達到的具體功能和性能方面的要求。

　　2、架構設計與算法設計

根據客戶提出的規格要求，對一些功能進行算法設計，拿出設計解決方案和具體實現架構，劃分模塊功能。

      3、HDL編碼

　　使用硬件描述語言（VHDL，Verilog HDL）分模塊以代碼來描述實現，RTL coding，linux環境下一般用Gvim作為代碼編輯器。

　　4、功能

驗證就是檢驗編碼設計的正確性。不符合規格要重新設計和編碼。設計和驗證是反復迭代的過程，直到驗證結果顯示完全符合規格標準。該部分稱為前。

　　5、邏輯綜合――Design Compiler

　　驗證通過，進行邏輯綜合。邏輯綜合就是把HDL代碼翻譯成門級網表netlist。

綜合需要設定約束條件，就是你希望綜合出來的電路在面積，時序等目標參數上達到的標準。邏輯綜合需要基于特定的綜合庫，不同的庫中，門電路基本標準單元（standard cell）的面積，時序參數是不一樣的。所以，綜合庫不一樣，綜合出來的電路在時序，面積上是有差異的。作為改善方式，就是導入FinFET（Tri-Gate）這個概念，如右上圖。一般來說，綜合完成后需要再次做驗證（這個也稱為后）

邏輯綜合工具：Synopsys的Design Compiler，工具選擇上面的三種工具均可。

　　6、靜態時序分析——STA

Static Timing Analysis（STA），靜態時序分析，驗證范疇，它主要是在時序上對電路進行驗證，檢查電路是否存在建立時間（setup time）和保持時間（hold time）的違例（violation）。這個是數字電路基礎知識，一個寄存器出現這兩個時序違例時，是沒有辦法正確采樣數據和輸出數據的，所以以寄存器為基礎的數字芯片功能肯定會出現問題。綜合需要設定約束條件，就是你希望綜合出來的電路在面積，時序等目標參數上達到的標準。

數IC設計產品類型？

對于當今所有的IC設計，DC Ultra 是可以利用的的綜合平臺。它擴展了DC Expert的功能，包括許多的綜合優化算法，讓關鍵路徑的分析和優化在的時間內完成。在其中集成的Module Compiler數據通路綜合技術， DC Ultra利用同樣的VHDL/Verilog流程，能夠創造處又快又小的電路。可靠性（Reliability）則是對產品耐久力的測量，它回答了一個產品生命周期有多長，簡單說，它能用多久的問題。

DFT Compiler

DFT Compiler提供的“一遍測試綜合”技術和方案。它和Design Compiler 、Physical Compiler系列產品集成在一起的，包含功能強大的掃描式可測性設計分析、綜合和驗證技術。DFT Compiler可以使設計者在設計流程的前期，很快而且方便的實現高質量的測試分析，確保時序要求和測試覆蓋率要求同時得到滿足。DFT Compiler同時支持RTL級、門級的掃描測試設計規則的檢查，以及給予約束的掃描鏈插入和優化，同時進行失效覆蓋的分析。2MIT-STD-883EMethod1033在了解上述的IC測試方法之后，IC的設計制造商就需要根據不用IC產品的性能，用途以及需要測試的目的，選擇合適的測試方法，的降低IC測試的時間和成本，從而有效控制IC產品的質量和可靠度。

Power Compiler

Power Compiler?芯片也有它獨特的地方，廣義上，只要是使用微細加工手段制造出來的半導體片子，都可以叫做芯片，里面并不一定有電路。提供簡便的功耗優化能力，能夠自動將設計的功耗化，提供綜合前的功耗預估能力，讓設計者可以更好的規劃功耗分布，在短時間內完成低功耗設計。Power Compiler嵌入Design Compiler/Physical Compiler之上，是業界可以同時優化時序、功耗和面積的綜合工具。

FPGA Compiler II

FPGA Compiler II是一個專用于快速開發高品質FPGA產品的邏輯綜合工具，可以根據設計者的約束條件，針對特定的FPGA結構（物理結構）在性能與面積方面對設計進行優化，自動地完成電路的邏輯實現過程，從而大大降低了FPGA設計的復雜度。時鐘樹插入后，每個單元的位置都確定下來了，工具可以提出GlobalRoute形式的連線寄生參數，此時對參數的提取就比較準確了。

大功率模擬集成電路

隨著集成電路產業快速發展,集成電路的集成度越來越高,內部結構也越來越復雜,對于測試的要求也越來越高。集成電路測試技術作為保障集成電路性能、質量的重要技術之一也得到了很快的發展。直流參數測試是集成電路測試技術的重要組成部分,能夠快速有效的檢測芯片的性能,受到集成電路測試行業的高度重視。實現了一種大功率直流參數測試的研制,可以實現高電壓、大電流的直流參數測試,具有很高的測試精度,而且具有一定的通用性。需求層面：模擬類產品下游汽車、工業用途要求以可靠性、安全行為主，偏好性能成熟穩定類產品的同時資格認可相對較為嚴格，一般不低于一年半。 

首先根據文獻資料分析本課題研究的背景以及意義,介紹了集成電路測試系統組成、分類以及國內外的發展狀況。介紹了集成電路直流參數測試的基本原理與方法,在此基礎上分析了大功率模擬集成電路直流參數測試的設計需求,提出了設計需要實現的功能與設計指標,構建了大功率模擬集成電路直流參數測試實現的原理方案;設計了接口控制模塊、邏輯控制模塊與精密測量單元,詳細分析了精密測量單元的工作原理,并搭建了具體的硬件電路;根據硬件所需要實現的測試功能,設計了測試底層驅動函數,提供給應用軟件測試函數接口實現可編程測試,并對測試進行了軟件校正;后文章給出了功能測試數據與報告,分析了集成運算放大器的測試原理和方法,并給出了測試過程與測試數據,表明測試性能達到了比較好的效果。設計的大功率模擬直流參數測試模塊,已經被廣東某集成電路制造企業使用,使用效果表明測試模塊性能穩定,通用性強,成本低,特別適合國內集成電路企業的應用,具有比較高的實用價值。所有的分析方法不同數電：主要分析輸入輸出信號之間的邏輯關系，使用邏輯代數，真值表、卡諾圖等分析方法。