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              日照熒光測(cè)厚儀值得信賴(lài)

              發(fā)布時(shí)間:2020-11-30 09:00  

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              一六儀器 專(zhuān)業(yè)測(cè)厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法  X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

              應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車(chē)電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

              鍍層厚度分析儀的測(cè)量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測(cè)量法,稱(chēng)重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等等。這些方法中前五種是有損檢測(cè),測(cè)量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗(yàn)。

              X射線和β射線法是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量,測(cè)量范圍較小,X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆

              層測(cè)厚時(shí)采用。




              江蘇一六儀器   X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

              儀器簡(jiǎn)介

                    XTU系列測(cè)厚儀雖然結(jié)構(gòu)緊湊,但是都有大容量的開(kāi)槽設(shè)計(jì)樣品腔,即使超過(guò)樣品腔尺寸的工件也可以測(cè)試。

                  搭配微聚焦射線管和先進(jìn)的光路設(shè)計(jì),以及變焦算法裝置,可測(cè)試極微小和異形樣品。

                  檢測(cè)78種元素鍍層·0.005um檢出限·測(cè)量面積可達(dá)0.002mm2·深凹槽可達(dá)90mm。

                   外置的高精密微型滑軌,可以快速控制樣品移動(dòng),移動(dòng)精度0.005mm,速度10-30mm(X-Y)/圈,再小再多的樣品測(cè)試都沒(méi)有難度,讓操作人員輕松自如。

              應(yīng)用領(lǐng)域


                線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測(cè)

                鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析

                手表、精密儀表制造行業(yè)

                釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB        

                汽車(chē)、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測(cè)

                衛(wèi)浴產(chǎn)品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

                電鍍液的金屬陽(yáng)離子檢測(cè)







              江蘇一六儀器有限公司是一家專(zhuān)注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專(zhuān)業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn),經(jīng)與海內(nèi)外多名專(zhuān)家通力合作,研究開(kāi)發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。

              波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀的前面部分和能量色散型X射線熒光光譜儀是一樣的,X光管激發(fā)樣品,檢測(cè)器測(cè)量來(lái)自樣品的射線,但波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀的檢測(cè)器和能量色散型X射線熒光光譜儀的檢測(cè)器不同。波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀的計(jì)策系統(tǒng)由一套準(zhǔn)直器,衍射晶體和探測(cè)器組成,來(lái)自樣品的特征譜線照射到鏡頭上,晶體將不同波長(zhǎng)(能量)的譜線衍射到不同的方向,(相當(dāng)于棱鏡將復(fù)合光分解成不同的單色光),將檢測(cè)器放置在一定的角度,就可測(cè)量某一波長(zhǎng)的譜線強(qiáng)度。EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題鍍層厚度分析儀的測(cè)量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測(cè)量法,稱(chēng)重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等等。將分光晶體和探測(cè)器裝在測(cè)角儀上,使它在一定角度范圍內(nèi)轉(zhuǎn)動(dòng),一次測(cè)量不同波長(zhǎng)長(zhǎng)譜線的強(qiáng)度,使用這種形式的光譜儀稱(chēng)為順序掃描式光譜儀。安裝固定檢測(cè)系統(tǒng)的稱(chēng)為同時(shí)式光譜儀,每一套檢測(cè)系統(tǒng)都有自己的晶體和探測(cè)器,分別測(cè)量某一特定元素的譜線,各譜線的強(qiáng)度同時(shí)被測(cè)量,這就很容易理解為什么稱(chēng)它為固定道波長(zhǎng)色散型光譜儀,另外也有固定式和轉(zhuǎn)動(dòng)式結(jié)合的儀器。X射線波長(zhǎng)色散型光譜儀一般有光源(X-射線管)、樣品室

              分光晶體和檢測(cè)系統(tǒng)等組成。


              江蘇一六儀器    X熒光光譜測(cè)厚儀  專(zhuān)業(yè)涂鍍層測(cè)厚

              應(yīng)用領(lǐng)域:廣泛應(yīng)用于線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測(cè)、鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析、手表、精密儀表制造行業(yè)、

              釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB、汽車(chē)、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測(cè)、衛(wèi)浴產(chǎn)品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)、電鍍液的金屬陽(yáng)離子檢測(cè)。