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發布時間:2020-08-09 04:55  





氦質譜檢漏原理
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氦質譜檢漏技術是以無色、無味的惰性氣體氦氣為示蹤介質、以磁質譜分析儀為檢測儀器,用于檢漏的一種檢測技術,氦檢漏設備,它的檢漏靈敏度可達10-14~10-15Pam3/s,可以準確確定漏孔位置和漏率。氦質譜檢漏儀主要由質譜室、真空系統組件和電子學控制元件三大部分組成。質譜室接在分子泵的高真空端,入口接在分子泵和機械泵之間,氦檢漏設備價格,利用分子泵對不同氣體具有不同壓縮比的特點,氦氣逆著分子泵的抽氣方向進入質譜室。檢漏儀在質譜室中將氣體電離,這些離子在加速電場的作用下進入磁場,在洛倫茲力作用下發生偏轉,由于不同荷質比的離子具有不同的電磁學特性,偏轉半徑各不相同,在擋板的作用下,氦檢漏設備保養,氦檢漏儀的收集板只允許帶正電的氦離子被接收到,單位時間到達收集板的氦離子對應于一個電流信號,這個電流信號正比于進入到達收集板氦離子的數量,電流信號經過放大后顯示在質譜儀的顯示面板上,其大小反映了泄漏點的漏率,通過泄漏率大小來確定該位置泄漏程度的大小。
氦質譜檢漏儀的示蹤氣體選用氦氣,是因為氦氣具有以下優良特性:
①氦氣在空氣中的含量少,體積含量為5.24×10-6,如果氦氣在環境中的含量超過標準,可以比較容易地探測到極微量的氦氣;
②氦分子小、質量輕、易擴散、易穿越漏孔、易于檢測也易于清除;
③氦離子荷質比小,易于進行質譜分析;
④氦氣是惰性氣體,化學性質穩定,不會腐蝕和損傷任何設備;
⑤氦氣無毒,不凝結,極難容于水。
氦質譜檢漏儀的優勢
科技信息化不斷更新迭代的市場,氦質譜檢漏儀的應用技術也在不斷發展和完善。一方面過去的氦質譜檢漏儀不能滿足現階段的一個需求,而且對檢漏儀提出新要求的情況下,檢漏儀設備使更新,另一方面每個行業的不足都在進步的過程,缺陷與不足相互補充,相互促進。而現在的氦質譜檢漏儀早已告別了四五十年代的初期情形,在性能和領域上都有新的突破。
氦質譜檢漏儀從以往的單方面領域的應用到現在多領域的應用,如:航空航天高科技工業、電力行業、電子行業、真空儀器儀表行業、核工業、制冷行業、不銹鋼保溫器皿等。其實氦質譜檢漏儀的領域應用廣發也是代表科技的一大進步,常見的氦質譜檢漏儀檢測儀方法有漏點型、漏率型兩種。
氦質譜檢漏儀適用于元件檢漏的要求,靈活性測試,高靈敏度,快速啟動,移動性和系統的可靠性。
氦質譜檢漏的優越性
氦質譜檢漏法是根據質譜分析的原理, 以氦作示蹤氣體, 對各種需密封的容器的漏隙進行快速定位和定量檢測的理想方法。
由于氦是惰性氣體, 對大氣無污染, 使用比較安全; 而且氦的原子量小、粘度小, 容易滲透過任何可能存在的漏隙, 因此檢測靈敏度高、速度快、適用范圍廣; 另外氦在大氣中含量少(僅萬分之五) , 離子質量與其它氣體離子質量相差很大, 不易受干擾, 錯判幾率小。所以, 與其它諸多檢漏方法比, 氦質譜檢漏具有的優越性。
隨著科學技術的不斷發展, 檢漏應用技術在不斷地更新, 氦質譜檢漏技術也在不斷擴展到更廣闊的領域當中。為提高產品合格率和生產效率, 不應一味沿用的古老且落后的手段處理泄漏問題。
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質譜法基本原理
質譜,又稱質譜法(mass spectrometry,MS),是通過不同的離子化方式,將試樣(原子或分子)轉化為運動的氣態離子,并按照質荷比(m/z)大小進行分離檢測的分析方法,是一種與光譜并列的譜學方法。根據質譜圖上峰的位置和相對強度大小,質譜可對無機物、有機物和生物大分子進行定性和定量分析。Thomson JJ于1906年發明質譜,并運用于發現非性同位素和無機元素分析。20世紀40年代以后開始用于有機物分析。Thomson JJ于1906年發明質譜,并運用于發現非性同位素和無機元素分析。20世紀40年代以后開始用于有機物分析。80年代初期,快原子轟擊電離的應用,是質譜更好的運用于生物化學大分子。90年代以來,隨著電噴霧電離和基質輔助激光解吸電離的應用,已形成生物質譜學一新學科[1]。目前,質譜法已經日益廣泛的應用于原子能、化學、電子、冶金、、食品、陶瓷等工業生產部門,農業科學研究部門,以及物理、電子與離子物理、同位素地質學、有機化學等科學技術領域[2]。
質譜法的基本原理是試樣分子或原子在離子源中發生電離,生成各種類型帶電粒子或離子,經加速電場的作用獲得動能形成離子束;進入質量分析儀,在其中再利用帶電粒子在電場或磁場中運動軌跡的差異,將不同質荷比的離子按空間位置或時間的不同而分離開;然后到達離子將離子流轉變為電信號,得到質譜圖。
質譜儀基本結構,化合物的質譜是由質譜儀測得的。質譜儀是使分析試樣離子化并按質荷比大小進行分離、檢測和記錄的儀器。一般質譜儀由進樣系統,離子源,質量分析儀,離子及信號放大記錄系統組成