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              檢漏設(shè)備報(bào)價(jià)詢問(wèn)報(bào)價(jià)

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              發(fā)布時(shí)間:2020-08-09 04:55  
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              視頻作者:深圳銳誠(chéng)真空技術(shù)有限公司






              氦質(zhì)譜檢漏原理

              深圳銳誠(chéng)真空專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)、銷(xiāo)售氦檢漏設(shè)備,我們?yōu)槟治鲈摦a(chǎn)品的以下信息。

              氦質(zhì)譜檢漏技術(shù)是以無(wú)色、無(wú)味的惰性氣體氦氣為示蹤介質(zhì)、以磁質(zhì)譜分析儀為檢測(cè)儀器,用于檢漏的一種檢測(cè)技術(shù),氦檢漏設(shè)備,它的檢漏靈敏度可達(dá)10-14~10-15Pam3/s,可以準(zhǔn)確確定漏孔位置和漏率。氦質(zhì)譜檢漏儀主要由質(zhì)譜室、真空系統(tǒng)組件和電子學(xué)控制元件三大部分組成。質(zhì)譜室接在分子泵的高真空端,入口接在分子泵和機(jī)械泵之間,氦檢漏設(shè)備價(jià)格,利用分子泵對(duì)不同氣體具有不同壓縮比的特點(diǎn),氦氣逆著分子泵的抽氣方向進(jìn)入質(zhì)譜室。檢漏儀在質(zhì)譜室中將氣體電離,這些離子在加速電場(chǎng)的作用下進(jìn)入磁場(chǎng),在洛倫茲力作用下發(fā)生偏轉(zhuǎn),由于不同荷質(zhì)比的離子具有不同的電磁學(xué)特性,偏轉(zhuǎn)半徑各不相同,在擋板的作用下,氦檢漏設(shè)備保養(yǎng),氦檢漏儀的收集板只允許帶正電的氦離子被接收到,單位時(shí)間到達(dá)收集板的氦離子對(duì)應(yīng)于一個(gè)電流信號(hào),這個(gè)電流信號(hào)正比于進(jìn)入到達(dá)收集板氦離子的數(shù)量,電流信號(hào)經(jīng)過(guò)放大后顯示在質(zhì)譜儀的顯示面板上,其大小反映了泄漏點(diǎn)的漏率,通過(guò)泄漏率大小來(lái)確定該位置泄漏程度的大小。

              氦質(zhì)譜檢漏儀的示蹤氣體選用氦氣,是因?yàn)楹饩哂幸韵聝?yōu)良特性:

              ①氦氣在空氣中的含量少,體積含量為5.24×10-6,如果氦氣在環(huán)境中的含量超過(guò)標(biāo)準(zhǔn),可以比較容易地探測(cè)到極微量的氦氣;

              ②氦分子小、質(zhì)量輕、易擴(kuò)散、易穿越漏孔、易于檢測(cè)也易于清除;

              ③氦離子荷質(zhì)比小,易于進(jìn)行質(zhì)譜分析;

              ④氦氣是惰性氣體,化學(xué)性質(zhì)穩(wěn)定,不會(huì)腐蝕和損傷任何設(shè)備;

              ⑤氦氣無(wú)毒,不凝結(jié),極難容于水。



              氦質(zhì)譜檢漏儀的優(yōu)勢(shì)

              科技信息化不斷更新迭代的市場(chǎng),氦質(zhì)譜檢漏儀的應(yīng)用技術(shù)也在不斷發(fā)展和完善。一方面過(guò)去的氦質(zhì)譜檢漏儀不能滿足現(xiàn)階段的一個(gè)需求,而且對(duì)檢漏儀提出新要求的情況下,檢漏儀設(shè)備使更新,另一方面每個(gè)行業(yè)的不足都在進(jìn)步的過(guò)程,缺陷與不足相互補(bǔ)充,相互促進(jìn)。而現(xiàn)在的氦質(zhì)譜檢漏儀早已告別了四五十年代的初期情形,在性能和領(lǐng)域上都有新的突破。

              氦質(zhì)譜檢漏儀從以往的單方面領(lǐng)域的應(yīng)用到現(xiàn)在多領(lǐng)域的應(yīng)用,如:航空航天高科技工業(yè)、電力行業(yè)、電子行業(yè)、真空儀器儀表行業(yè)、核工業(yè)、制冷行業(yè)、不銹鋼保溫器皿等。其實(shí)氦質(zhì)譜檢漏儀的領(lǐng)域應(yīng)用廣發(fā)也是代表科技的一大進(jìn)步,常見(jiàn)的氦質(zhì)譜檢漏儀檢測(cè)儀方法有漏點(diǎn)型、漏率型兩種。

              氦質(zhì)譜檢漏儀適用于元件檢漏的要求,靈活性測(cè)試,高靈敏度,快速啟動(dòng),移動(dòng)性和系統(tǒng)的可靠性。

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              氦質(zhì)譜檢漏的優(yōu)越性

              氦質(zhì)譜檢漏法是根據(jù)質(zhì)譜分析的原理, 以氦作示蹤氣體, 對(duì)各種需密封的容器的漏隙進(jìn)行快速定位和定量檢測(cè)的理想方法。

              由于氦是惰性氣體, 對(duì)大氣無(wú)污染, 使用比較安全; 而且氦的原子量小、粘度小, 容易滲透過(guò)任何可能存在的漏隙, 因此檢測(cè)靈敏度高、速度快、適用范圍廣; 另外氦在大氣中含量少(僅萬(wàn)分之五) , 離子質(zhì)量與其它氣體離子質(zhì)量相差很大, 不易受干擾, 錯(cuò)判幾率小。所以, 與其它諸多檢漏方法比, 氦質(zhì)譜檢漏具有的優(yōu)越性。

              隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展, 檢漏應(yīng)用技術(shù)在不斷地更新, 氦質(zhì)譜檢漏技術(shù)也在不斷擴(kuò)展到更廣闊的領(lǐng)域當(dāng)中。為提高產(chǎn)品合格率和生產(chǎn)效率, 不應(yīng)一味沿用的古老且落后的手段處理泄漏問(wèn)題。

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              質(zhì)譜法基本原理

              質(zhì)譜,又稱質(zhì)譜法(mass spectrometry,MS),是通過(guò)不同的離子化方式,將試樣(原子或分子)轉(zhuǎn)化為運(yùn)動(dòng)的氣態(tài)離子,并按照質(zhì)荷比(m/z)大小進(jìn)行分離檢測(cè)的分析方法,是一種與光譜并列的譜學(xué)方法。根據(jù)質(zhì)譜圖上峰的位置和相對(duì)強(qiáng)度大小,質(zhì)譜可對(duì)無(wú)機(jī)物、有機(jī)物和生物大分子進(jìn)行定性和定量分析。Thomson JJ于1906年發(fā)明質(zhì)譜,并運(yùn)用于發(fā)現(xiàn)非性同位素和無(wú)機(jī)元素分析。20世紀(jì)40年代以后開(kāi)始用于有機(jī)物分析。Thomson JJ于1906年發(fā)明質(zhì)譜,并運(yùn)用于發(fā)現(xiàn)非性同位素和無(wú)機(jī)元素分析。20世紀(jì)40年代以后開(kāi)始用于有機(jī)物分析。80年代初期,快原子轟擊電離的應(yīng)用,是質(zhì)譜更好的運(yùn)用于生物化學(xué)大分子。90年代以來(lái),隨著電噴霧電離和基質(zhì)輔助激光解吸電離的應(yīng)用,已形成生物質(zhì)譜學(xué)一新學(xué)科[1]。目前,質(zhì)譜法已經(jīng)日益廣泛的應(yīng)用于原子能、化學(xué)、電子、冶金、、食品、陶瓷等工業(yè)生產(chǎn)部門(mén),農(nóng)業(yè)科學(xué)研究部門(mén),以及物理、電子與離子物理、同位素地質(zhì)學(xué)、有機(jī)化學(xué)等科學(xué)技術(shù)領(lǐng)域[2]。

              質(zhì)譜法的基本原理是試樣分子或原子在離子源中發(fā)生電離,生成各種類(lèi)型帶電粒子或離子,經(jīng)加速電場(chǎng)的作用獲得動(dòng)能形成離子束;進(jìn)入質(zhì)量分析儀,在其中再利用帶電粒子在電場(chǎng)或磁場(chǎng)中運(yùn)動(dòng)軌跡的差異,將不同質(zhì)荷比的離子按空間位置或時(shí)間的不同而分離開(kāi);然后到達(dá)離子將離子流轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?hào),得到質(zhì)譜圖。

              質(zhì)譜儀基本結(jié)構(gòu),化合物的質(zhì)譜是由質(zhì)譜儀測(cè)得的。質(zhì)譜儀是使分析試樣離子化并按質(zhì)荷比大小進(jìn)行分離、檢測(cè)和記錄的儀器。一般質(zhì)譜儀由進(jìn)樣系統(tǒng),離子源,質(zhì)量分析儀,離子及信號(hào)放大記錄系統(tǒng)組成

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