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發布時間:2020-08-06 14:45  
大塚電子(蘇州)有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢!
應用范圍■光學薄膜
?相位差膜、橢圓膜、相位差板
?偏光膜、附加功能偏光膜、偏光板、其它光學材料
■液晶層
?穿透、半穿透型液晶層(TFT、TN、STN、IPS 、VA、OCB、強誘電性液晶)
?反射型液晶層(TN,STN)
什么是液晶分子預傾角以及液晶分子預傾角對電光特性的影響,說明了精準測量液晶分子預傾角對現有液晶顯示器生產和進一步研究液晶顯示技術有著重要的意義。緊接著文章對現有的液晶分子預傾角測量方法進行了概述,并且給出了幾種創新性的測量方法。 晶體旋轉法是目前廣泛使用的方法,它測試精度高,測試速度快,得到人們的認可。
本設備是利用瞬間多通道測光光譜儀以及偏光光學系高速測量透過型封入完成后的LCD Cell(TN,IPS,MVA)的Gap以及Pre-tilt角。
本設備是利用瞬間多通道測光檢出器和自動大型X-Y平臺以及偏光光學系,測定透過型液晶面板面內的cellgap和預斜角(含MVA)的系統。通過多折射位相差(RE.)來計算液晶封入后的液晶基板的cellgap值,測定精度高。