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              光譜測厚儀可量尺定做 一六儀器1

              發布時間:2020-12-22 06:13  

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              江蘇一六儀器    X熒光光譜測厚儀

              下照式設計:可以快速方便地定位對焦樣品。

                無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進行無損檢測,凹槽深度范圍0-90mm。

                微聚焦射線裝置:可檢測面積小于0.002mm2的樣品,可測試各微小的部件。

                接收:即使測試0.01mm2以下的樣品,幾秒鐘也能達到穩定性。

                精密微型滑軌:快速精準定位樣品。

                EFP先進算法軟件:多層多元素,甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。


              江蘇一六儀器 XTU系列 XTU-BL X熒光光譜儀

              儀器規格:

                 外形尺寸 :550 mm x 660mm x 470 mm (長x寬x高)

                 樣品倉尺寸 :500mm×660 mm ×215mm (長x寬x高)

                 儀器重量 :55kg

                 供電電源 :交流220±5V

                 功率 :330W

                 環境溫度:15℃-30℃

                 環境相對濕度:<70%

              EDX是借助于分析試樣發出的元素特征X射線波長和強度實現的, 根據不同元素特征X射線波長的不同來測定試樣所含的元素。通過對比不同元素譜線的強度可以測定試樣中元素的含量。通常EDX結合電子顯微鏡使用,可以對樣品進行微區成分分析。

              常用的EDX探測器是硅滲鋰探測器。當特征X射線光子進入硅滲鋰探測器后便將硅原子電離,產生若干電子-空穴對,其數量與光子的能量成正比。5彩色CCD,變焦功能對焦方式高敏感鏡頭,手動對焦放大倍數:光學38-46X,數字放大40-200倍隨機標準片:十二元素片、Ni/Fe5um、Au/Ni/Cu0。利用偏壓收集這些電子空穴對,經過一系列轉換器以后變成電壓脈沖供給多脈沖高度分析器,并計數能譜中每個能帶的脈沖數。

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                    江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發、生產、銷售的高新技術企業。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區。我們專業的研發團隊具備十年以上的從業經驗,經與海內外多名專家通力合作,研究開發出一系列能量色散X熒光光譜儀 

                   江蘇一六儀器   能量色散X射線熒光光譜測厚儀 

              X射線的產生利用X射線管(圖2),施加高電壓以加速電子,使其沖撞金屬陽極(對陰極)從而產生X射線。標準片應與被測試樣具有相同的覆蓋層和基體材料,但對試樣基材為合金成分的,有些儀器軟件允許標樣基材可與被測試樣基材不同,但前提是標準塊基體材料與試樣基材中的主元素相同。從設計上分為橫窗型(side window type)和縱窗型(end window type)兩種X射線管,都是設計成能夠把X射線均勻得照射在樣品表面的結構。

              X射線窗口,一般使用的是鈹箔。陰極(也叫做:靶材)則多使用是鎢(W)、銠(Rh)、鉬(Mo)、鉻(Cr)等材料。這些靶材的使用是依據分析元素的不同而使用不同材質。原則上分析目標元素與靶材的材質不同。


              江蘇一六儀器  專業涂鍍層研發、生產、銷售高新技術企業。其中穩定的多道脈沖分析采集系統、先進的解譜方法和EFP算法結合精準定位及變焦結構設計,解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業界難題。

              單鍍層:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。

              雙鍍層:Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。

              三鍍層:Au/Ni/Cu/ABS,Au/Ag/Ni/Cu, Au/Ni/Cu/Fe,等等

              一、功能

              1. 采用 X 射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度,測量方法滿足

              GB/T 16921-2005 標準(等同 ISO3497:2000、 ASTM B568 和 DIN50987)。

              2.  鍍層層數:多至 5 層。

              3. 測量點尺寸:圓形測量點,直徑約 0.2—0.8毫米。

              4. 測量時間:通常 30 秒。

              5. 測量誤差:通常小于 5%,視樣品具體情況而定。

              6. 可測厚度范圍:通常 0.01 微米到 30 微米,視樣品組成和鍍層結構而定。



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