測(cè)厚儀廠(chǎng)家廠(chǎng)家供應(yīng)【一六儀器】

一六儀器 專(zhuān)業(yè)測(cè)厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法  X射線(xiàn)熒光鍍層測(cè)厚儀

應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車(chē)電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

常規(guī)鍍層厚度分析儀的原理

對(duì)材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等，在有關(guān)國(guó)家和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中稱(chēng)為覆層（coating）。較外層電子躍遷到內(nèi)層電子空位所釋放的能量等于兩電子能級(jí)的能量差，因此，X射線(xiàn)熒光的波長(zhǎng)對(duì)不同元素是特征的，根據(jù)元素X射線(xiàn)熒光特征波長(zhǎng)對(duì)元素做定性分析，根據(jù)元素釋放出來(lái)的熒光強(qiáng)度，來(lái)進(jìn)行定量分析如元素厚度或含量分析。覆層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必備手段。為使產(chǎn)品國(guó)際化，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)覆層厚度有了明確的要求。

覆層厚度的測(cè)量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱(chēng)重法，X射線(xiàn)熒光法，β射線(xiàn)反向散射法，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等。

江蘇一六儀器有限公司是一家專(zhuān)注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專(zhuān)業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)與海內(nèi)外多名專(zhuān)家通力合作，研究開(kāi)發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀

X射線(xiàn)熒光光譜分析儀結(jié)構(gòu)及組成：用X射線(xiàn)照射式樣時(shí)，試樣可以被激發(fā)出各種波長(zhǎng)的熒光X射線(xiàn)，需要把混合的X射線(xiàn)按波長(zhǎng)（或能量）分開(kāi)，分別測(cè)量不同波長(zhǎng)（或能量）的X射線(xiàn)的強(qiáng)度，以進(jìn)行定性和定量分析，為此試用的儀器叫X射線(xiàn)熒光光譜儀。鍍層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。由于X光具有一定的波長(zhǎng)，同事又有一定能量，因此，X射線(xiàn)熒光光譜儀有2種基本類(lèi)型：波長(zhǎng)色散型（WD）和能量色散性（ED）。

波長(zhǎng)色散型是由色散元件將不同波長(zhǎng)的特征X射線(xiàn)衍射到不同的角度上，探測(cè)器需移動(dòng)到想要的位置上來(lái)探測(cè)某一波長(zhǎng)能量的射線(xiàn)。通過(guò)測(cè)角器以1∶2速度轉(zhuǎn)動(dòng)分析晶體和探測(cè)器，可在不同的布拉格角位置上測(cè)得不同波長(zhǎng)的X射線(xiàn)而作元素的定性分析。而能量色散型，是由探測(cè)器本身的能量分辨本領(lǐng)直接探測(cè)X射線(xiàn)的能量。波長(zhǎng)色散型譜線(xiàn)分辨本領(lǐng)高，而能量色散型可同時(shí)測(cè)量多條譜線(xiàn)的能量。

江蘇一六儀器  專(zhuān)業(yè)涂鍍層研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售高新技術(shù)企業(yè)。其中穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。

單鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。

雙鍍層：Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。

三鍍層：Au/Ni/Cu/ABS，Au/Ag/Ni/Cu, Au/Ni/Cu/Fe,等等

一、功能

1. 采用 X 射線(xiàn)熒光光譜法無(wú)損測(cè)量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測(cè)量方法滿(mǎn)足

GB/T 16921-2005 標(biāo)準(zhǔn)（等同 ISO3497：2000、 ASTM B568 和 DIN50987）。

2.  鍍層層數(shù)：多至 5 層。

3. 測(cè)量點(diǎn)尺寸：圓形測(cè)量點(diǎn)，直徑約 0.2—0.8毫米。

4. 測(cè)量時(shí)間：通常 30 秒。

5. 測(cè)量誤差：通常小于 5%，視樣品具體情況而定。

6. 可測(cè)厚度范圍：通常 0.01 微米到 30 微米，視樣品組成和鍍層結(jié)構(gòu)而定。