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發(fā)布時(shí)間:2020-12-31 07:40  
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一六儀器 專(zhuān)業(yè)測(cè)厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法 X射線(xiàn)熒光鍍層測(cè)厚儀
應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車(chē)電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題
一六 熒光測(cè)厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷(xiāo)售一體
元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U) 厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物
一次可同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005umxiao測(cè)量面積0.002m㎡ 深凹槽20mm以上
鍍層厚度分析儀使用注意事項(xiàng)
1.儀器供電電壓必須與儀器銘牌上的電壓一致。儀器必須使用三線(xiàn)插頭連到一個(gè)已接地的插座上。
2.鍍層厚度分析儀為精密儀器,建議配備的穩(wěn)壓電源。計(jì)算機(jī)和儀器應(yīng)配備不間斷電源(UPS)。
3.鍍層厚度分析儀應(yīng)特別注意與存在電磁的場(chǎng)合隔離開(kāi)來(lái)。
4.儀器適合在10~40℃(50~104℉)的環(huán)境溫度下操作使用,在0~50℃(32~122℉)的溫度下存放。操作和存放的允許濕度范圍在0~65%之間(非冷凝)。在操作過(guò)程中,環(huán)境溫度和濕度應(yīng)保持恒定。
5.儀器曝曬在陽(yáng)光下時(shí)溫度極易超過(guò)50℃。所以請(qǐng)不要在這樣的環(huán)境下操作和存放儀器,以避免高溫對(duì)儀器造成損害。
6.為避免短路,嚴(yán)禁儀器與液體直接接觸。如果液體進(jìn)入儀器,請(qǐng)立刻關(guān)閉儀器并在重新使用前請(qǐng)技術(shù)人員整體檢查儀器。
7.鍍層厚度分析儀不能用于酸性環(huán)境和場(chǎng)合。
8.不要弄臟和刮擦元素片或調(diào)校標(biāo)準(zhǔn)片,否則會(huì)造成讀數(shù)錯(cuò)誤。
9.不要用任何機(jī)械或化學(xué)的方法清除元素片或調(diào)校標(biāo)準(zhǔn)片上的污物。如果必要的話(huà),可以用一塊不起毛的布輕輕擦除臟物。


江蘇一六儀器 XTU系列 XTU-BL X熒光光譜儀
儀器規(guī)格:
外形尺寸 :550 mm x 660mm x 470 mm (長(zhǎng)x寬x高)
樣品倉(cāng)尺寸 :500mm×660 mm ×215mm (長(zhǎng)x寬x高)
儀器重量 :55kg
供電電源 :交流220±5V
功率 :330W
環(huán)境溫度:15℃-30℃
環(huán)境相對(duì)濕度:<70%
EDX是借助于分析試樣發(fā)出的元素特征X射線(xiàn)波長(zhǎng)和強(qiáng)度實(shí)現(xiàn)的, 根據(jù)不同元素特征X射線(xiàn)波長(zhǎng)的不同來(lái)測(cè)定試樣所含的元素。通過(guò)對(duì)比不同元素譜線(xiàn)的強(qiáng)度可以測(cè)定試樣中元素的含量。通常EDX結(jié)合電子顯微鏡使用,可以對(duì)樣品進(jìn)行微區(qū)成分分析。
常用的EDX探測(cè)器是硅滲鋰探測(cè)器。價(jià)格一直是客戶(hù)在購(gòu)買(mǎi)時(shí)關(guān)心的問(wèn)題,好質(zhì)量和售后服務(wù)的產(chǎn)品在價(jià)格上面往往比較高,所以客戶(hù)在選擇產(chǎn)品時(shí)選擇性?xún)r(jià)比高的就需要一定的了解,首先是品牌,其次是客戶(hù)調(diào)查,售后服務(wù)等。當(dāng)特征X射線(xiàn)光子進(jìn)入硅滲鋰探測(cè)器后便將硅原子電離,產(chǎn)生若干電子-空穴對(duì),其數(shù)量與光子的能量成正比。利用偏壓收集這些電子空穴對(duì),經(jīng)過(guò)一系列轉(zhuǎn)換器以后變成電壓脈沖供給多脈沖高度分析器,并計(jì)數(shù)能譜中每個(gè)能帶的脈沖數(shù)。
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江蘇一六儀器 選擇X熒光光譜鍍層檢測(cè)儀的四個(gè)理由:
1、無(wú)損檢測(cè)
鍍層工藝的高要求,讓楔切法、光截法等傳統(tǒng)的破壞性檢測(cè)方法越來(lái)越不適用,市場(chǎng)上迫切需要一種快速、準(zhǔn)確、無(wú)損的檢測(cè)方法,而X射線(xiàn)熒光光譜法無(wú)非是excellent鍍層無(wú)損檢測(cè)方法。
2、強(qiáng)化品質(zhì)管控
X熒光光譜鍍層檢測(cè)儀可以準(zhǔn)確檢測(cè)鍍層的金屬含量及厚度等數(shù)據(jù),這是做好電鍍品質(zhì)管控的前提。
3、提升生產(chǎn)力
傳統(tǒng)的檢測(cè)技術(shù),既耗時(shí)又耗人力,而X熒光光譜鍍層檢測(cè)儀可以很大程度上解放勞動(dòng)力,且檢測(cè)速度快、精度高,這對(duì)提高電鍍企業(yè)生產(chǎn)力、節(jié)約成本有很大幫助,從而帶來(lái)更多的經(jīng)濟(jì)效益。
4、提升市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力
X熒光光譜鍍層檢測(cè)儀不但可以幫助電鍍企業(yè)提升勞動(dòng)生產(chǎn)力,也可以幫助電鍍企業(yè)在行業(yè)里保持excellent的競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)。



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