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發布時間：2020-11-05 09:10
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一六 熒光測厚儀 十年以上研發團隊 集研發生產銷售一體
元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U) 厚度分析范圍:各種元素及有機物
一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um
X熒光測厚儀可調整測量位置，非常敏捷快速。或是測量位置已完成登陸時，可連續自動測定，利用座標補正、連結頻道，來應付各種測量軌跡。亦可用自動測定來作標準片校正。
測定部顯示盡像的表示：X線照射部可由WINDOWS畫面上取得照射部的表示。從準儀照射測定物的位置，可由倍率率更機能來實現盡面上測出物放大。。。
一六 熒光測厚儀 十年以上研發團隊 集研發生產銷售一體
元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U) 厚度分析范圍:各種元素及有機物
一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um
用轉移法測量塑膠產品上涂層時注意事項：
由于對塑膠產品上涂層的測量，如使用超聲波發測量時，經常因涂層與基材發生相溶而沒有較好的聲波反射面，從而導致測量失敗或讀值嚴重偏差。對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從Na到U。如使用切鍥法，也多有使用不方便和讀數困難的地方。所以目前便攜式電子產品生產廠普遍使用轉移法測量塑膠產品上涂層，先在產品上蓋若干小條標準厚度的聚酯薄膜，再用紙基美紋膠壓住兩頭，留出中間部分。將該產品放入噴涂線上正常噴涂、烘烤。
江蘇一六儀器 X熒光光譜測厚儀 特點
快速：1分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度，并達到測量精度要求。
方便：X熒光光譜儀部分機型采用進口國際上先進的電制冷半導體探測器，能量分辨率更優于135eV，測試精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期補充液氮，操作使用更加方便，并且運行成本比同類的其他產品更低。
無損：測試前后，樣品無任何形式的變化。
直觀：實時譜圖，可直觀顯示元素含量。
測試范圍廣：X熒光光譜儀，是一種物理分析方法，其分析與樣品的化學結合狀態無關。對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從Na到U。
可靠性高：由于測試過程無人為干擾因素，儀器自身分析精度、重復性與穩定性很高。所以，其測量的可靠性更高。
滿足不同需求：測試軟件為WINDOWS操作系統軟件，操作方便、功能強大，軟件可監控儀器狀態，設定儀器參數，并就有多種先進的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。
性價比高：相比化學分析類儀器，X熒光光譜儀在總體使用成本上有優勢的，可以讓更多的企業和廠家接受。
簡易：對人員技術要求較低，操作簡單方便,并且維護簡單方便。
江蘇一六儀器 X射線熒光光譜測厚儀
產品配置
X光金屬鍍層測厚儀標準配置為：X射線管，正比計數器﹨半導體探測器，高清攝像頭，高度激光，信號檢測電子電路。
性能指標
X射線激發系統 垂直上照式X射線光學系統
空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
X射線管：管電壓50KV，管電流1mA
可測元素：CI～U
檢測器：正比計數管
樣品觀察：CCD攝像頭
測定軟件：薄膜FP法、檢量線法
Z軸程控移動高度 20mm
