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發布時間:2021-08-23 22:38  
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ICP光譜儀原理是什么?
ICP光譜儀又稱分析儀,廣泛為認知的為直讀ICP光譜儀。以光電倍增管等光探測器測量譜線不同波長位置強度的裝置。它由一個入射狹縫,散系統,一個成像系統和一個或多個出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長或波長區域,并在選定的波長上(或掃描某一波段)進行強度測定。②光譜帶寬進樣5mg/L的Mn標準溶液,用儀器的狹縫測量252。分為單色儀和多色儀兩種。
ICP光譜儀的工作原理:
根據現代ICP光譜儀器的工作原理,ICP光譜儀可以分為兩大類:經典ICP光譜儀和新型ICP光譜儀。經典ICP光譜儀器是建立在空間色散原理上的儀器;新型ICP光譜儀器是建立在調制原理上的儀器。經典ICP光譜儀器都是狹縫ICP光譜儀器。調制ICP光譜儀是非空間分析的,它采用圓孔進光。隨著電腦在光譜儀中的應用,使儀器的檢測水平大幅提高,功能更智能,許多故障都可以通過電腦自帶的診斷程序進行檢測。根據色散組件的分析原理,ICP光譜儀器可分為:棱鏡ICP光譜儀,衍射光柵ICP光譜儀和干涉ICP光譜儀。
光學多道分析儀OMA是近十幾年出現的采用光子探測器(CCD)和計算機控制的新型光譜分析儀器,它集信息采集,處理,存儲諸功能于一體。
由于OMA不再使用感光乳膠,避免和省去了暗室處理以及之后的一系列繁瑣處理,測量工作,使傳統的光譜技術發生了根本的改變,大大改善了工作條件,提高了工作效率;使用OMA分析光譜,測量準確迅速,方便,且靈敏度高,響應時間快,光譜分辨率高,測量結果可立即從顯示屏上讀出或由打印機,繪圖儀輸出。它己被廣泛使用于幾乎所有的光譜測量,分析及研究工作中,特別適應于對微弱信號,瞬變信號的檢測。該準直元件可以是一獨立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上,如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。
如何給ICP光譜儀防塵?
由于ICP光譜儀的價位高昂,所以我們在日常使用中也要做好養護工作,今天我們就來聊聊如何給ICP光譜儀防塵。
在我國國內一般實驗室都不具備過濾塵埃、防塵的設施,因此光譜儀需要進行防塵處理。
當實驗室內需要采用排風機,排除儀器的熱量及工作時產生的有毒氣體時,實驗室與外部就形成壓力差,實驗室產生負壓,室外含有大量灰塵的空氣從門窗的縫隙中流入室內,大量積聚在光譜儀的各個部位上,容易造成高壓組件或接頭打火,電路板及接線、插座等短路、漏電等各種各樣的故障,因此,ICP光譜儀需要經常進行除塵。首先對氣候比較濕潤地區的用戶,必須配置大于50L的除濕機一臺,不然光譜分析儀由于受潮難于正常工作。特別是計算機、電子控制電路、高頻發生器、顯示器、打印機、磁盤驅動器等,定期拆卸或打開,用小毛刷清掃,并同時使用吸塵器將各個部分的積塵吸除。對光電倍增管負高壓電源線、及計算機顯示器的高壓線及接頭,還要用紗布沾上少許無水酒精小心的抹除積炭和灰塵。光譜儀的磁盤驅動器及打印機清出灰塵之后,要在機械活動部件滴加少許儀表油。打印機的打印頭還要拆下,光譜儀要用軟毛刷刷掃,并用絨布抹凈,防止被紙屑堵塞,然后按照說明書調整一定的打印壓力。
對于儀器除塵,一般由電子,儀修或計算機的專業人員幫助,光譜儀儀器使用或管理人員如不懂電子知識,不了解儀器結構,不要輕易去動,以免發生意外,除塵應事先停機并關掉供電電源下進行。
以上就是給ICP光譜儀防塵介紹,如果您還有關于光譜儀的問題,歡迎咨詢小編。
ICP光譜儀的校正方法
波長校正
波長校正是為使實際波長同檢測器檢出波長相一致。對于儀器除塵,一般由電子,儀修或計算機的專業人員幫助,光譜儀儀器使用或管理人員如不懂電子知識,不了解儀器結構,不要輕易去動,以免發生意外,除塵應事先停機并關掉供電電源下進行。大致可分為兩分部:首先通調整儀器來對光譜儀進行校正,然后是通過漂移補償的辦法減少因環境的變換導致譜線產生位移。光譜校正是儀器實際測得的波長與理論波長之間出現的偏差別進行的校正,一般是通過測試一系列元素的波長來進行校正,校正后所得數據即為對光譜彼進行校正的校正數據。
漂移補嘗是因為光普儀光譜線位移與波長、溫度、濕度、壓力變化之間有非線性函數關系,這種函數關系具有普遍適用性。對光電倍增管負高壓電源線、及計算機顯示器的高壓線及接頭,還要用紗布沾上少許無水酒精小心的抹除積炭和灰塵。其中零級光譜線隨波長、溫度變化產生的位移。漂移補償是一種常規監視過程,其原理是在進樣間歇期間,監測多條氫線波長,將實際值與理論值相比較,并對誤差進行補償。
ICP光譜儀主要用于微量元素的分析,可分析的元素為大多數的金屬和硅、磷、 硫等少量的非金屬,共 72 種。因此光譜設備相對傳統化學分析方法,是金屬冶煉,鑄造等行業的更好選擇。廣泛地應用于質量控制的元素分析,超微量元素 的檢測,尤其是在環保領域的水質監測。還可以對常量元素進行檢測,例如組分 的測量中,主要成分的元素測定。