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              蘇州鍍層膜厚儀免費(fèi)咨詢「多圖」

              發(fā)布時(shí)間:2020-12-14 02:13  

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              一六儀器  國(guó)內(nèi)外通力合作打造高性價(jià)比X熒光測(cè)厚儀  

              一六儀器研發(fā)生產(chǎn)的X熒光光譜儀,穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專利獨(dú)特聚焦和變距設(shè)計(jì),多元EFP算法,簡(jiǎn)便快速測(cè)試各種涂鍍層的厚度及成分比例


              涂層測(cè)厚儀操作規(guī)程有哪些

                我們?cè)谑褂猛繉訙y(cè)厚儀時(shí),如果不了解涂層測(cè)厚儀的操作規(guī)程,那么就很容易出現(xiàn)一些問(wèn)題,甚至嚴(yán)重的可能會(huì)對(duì)自身產(chǎn)生威脅,那么涂層測(cè)厚儀的操作規(guī)程有哪些,下面就來(lái)了解下先:


              二、 操作流程圖

                開(kāi)啟儀器 —— 校準(zhǔn)儀器 —— 進(jìn)行測(cè)量 —— 關(guān)閉儀器

                三、操作步驟

                基本測(cè)量步驟

                1. 準(zhǔn)備好待測(cè)工件;

                2. 將測(cè)頭插頭插入主機(jī)的測(cè)頭插座中;

                3.  儀器開(kāi)機(jī);


              性能優(yōu)勢(shì):

                 下照式設(shè)計(jì):可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。

                 無(wú)損變焦檢測(cè):可對(duì)各種異形凹槽進(jìn)行無(wú)損檢測(cè),凹槽深度范圍0-90mm。

                 微聚焦射線裝置:可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品,可測(cè)試各微小的部件。

                 率的jie shou qi :即使測(cè)試0.01mm2以下的樣品,幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性。

                 EFP先進(jìn)算法軟件:多層多元素,甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。


              4. 判斷是否需要校準(zhǔn)儀器。如果需要,選擇適當(dāng)?shù)男?zhǔn)方法進(jìn)行校 準(zhǔn);

                5.  測(cè)量。將測(cè)頭垂直接觸工件的測(cè)量面,并輕壓測(cè)頭的加載套,當(dāng) 測(cè)頭與被測(cè)工件表面接觸穩(wěn)定后,隨著一聲蜂鳴聲,屏幕將顯示標(biāo)識(shí)和測(cè)量值。如果測(cè)量標(biāo)識(shí)閃爍或無(wú)測(cè)量標(biāo)識(shí)則表示測(cè)頭不穩(wěn)定.移開(kāi)測(cè)頭后,測(cè)量標(biāo)識(shí)消失,厚度值保持。

                6.  儀器關(guān)機(jī)



              一六儀器---鍍層測(cè)厚儀|光譜測(cè)厚儀|X-ray測(cè)厚儀|X熒光測(cè)厚儀|凃?qū)幽ず駜x

               精密微型滑軌:快速精準(zhǔn)定位樣品。

              X射線測(cè)厚儀應(yīng)用在哪些方面

                   X射線測(cè)厚儀主要應(yīng)用在哪些方面?對(duì)于我們要使用到測(cè)厚儀的廠家來(lái)說(shuō),測(cè)厚儀能否適用于我們的產(chǎn)品是非常重要的,那么X射線測(cè)厚儀主要應(yīng)用在哪些方面?接下來(lái)就來(lái)了解下:

                 X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測(cè)定材料的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心,采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng),已達(dá)到要求的軋制厚度。


              X射線熒光的基本原理

              一六儀器X射線熒光測(cè)厚儀 研發(fā)生產(chǎn)廠家 品質(zhì)保證

              江蘇一六儀器有限公司研發(fā)的能量色散X熒光光譜儀具有穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析,歡迎來(lái)電咨詢!

              當(dāng)X射線激發(fā)出試樣特征X射線時(shí),其入射電磁輻射能量必須大于某一個(gè)值才能引起其內(nèi)層電子激發(fā)態(tài)從而形成空穴并引起電子的躍遷,這個(gè)值是吸收限,相當(dāng)于內(nèi)層電子的功函數(shù)。本公司先進(jìn)的技術(shù),you秀的良將,嚴(yán)格的企業(yè)管理是不斷發(fā)展壯大、產(chǎn)品能夠贏得客戶信賴的根本所在。如果入射電磁輻射的能量低于吸收限則在任何情況下都不能激發(fā)原子內(nèi)層電子并產(chǎn)生特征X射線。

              X射線的激發(fā)

                 如果要得到某元素的特征X射線,需要對(duì)元素原子內(nèi)層電子進(jìn)行激發(fā),使得內(nèi)層電子獲得一定能量,能夠脫離原子核的束縛,從而在內(nèi)層軌道形成電子空穴,當(dāng)較高能級(jí)電子填補(bǔ)這一空穴時(shí),才會(huì)發(fā)射一定能量的特征X射線,這個(gè)過(guò)程就是X射線的激發(fā)。