蘇州回收芯片多重優惠【宏勝再生環保電子科技】

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由于焊料或者前置焊球所引發的“陰影”效果限制了X射線設備的檢測工作，使之僅能粗略地反映BGA的工藝過程缺陷，例如：橋接現象。同時也影響到檢測邊緣部份的工藝缺陷，像焊料不足，或者由于污染引起的斷路現象。

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僅有橫截面X射線檢測技術，例如:X射線分層法，能夠克服上述條件的制約。橫截面X射線檢測技術具有能夠查出隱藏的焊接點缺陷的能力，通過對焊盤層焊接點的聚焦，能夠揭示出BGA焊接點的連接情況。BGA技術的研究始于60年代，最早被美國IBM公司采用，但一直到90年代初，BGA才真正進入實用化的階段。在同樣的情況下，采用X射線設各所獲得的圖像中，實際情況可能被隱藏掉了，從而不能夠反映出真實的情況。

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根據BGA連接點的常規結構，在每個橫截面X射線圖像“切片”內，具體連接點的特征被進行分離并予于以測量，從而提供定量的統計工藝控制(SPC)測量，SPC測量能夠用于追z蹤過程偏移，以及將其特征歸入對應的缺陷范疇。