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發布時間：2021-09-27 20:46
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鋼研納克SparkCCD 6000型火花發射光譜儀采用高分辨率線陣CCD（Charge-coupled Device）作為檢測器，實現全譜掃描，可以廣泛適用于多種基體金屬樣品的全元素成分分析。SparkCCD 6000型火花發射光譜儀優點不再受光電倍增管排布的空間限制，可以任意增加分析元素，無需增加硬件，維護保養方便。光譜儀激發光源為激發能量、頻率連續可調全數字固態光源，適應各種不同材料，原位單次放電采集技術有效提高分析精度，網口采集，通用性更強。
1. 采用多個CCD對可用范圍內的光譜譜線進行全譜掃描
2. 激發能量、頻率連續可調全數字固態光源，適應各種不同材料
3. 分析應用覆蓋面廣泛，與傳統儀器相比，不受通道及基體限制
4. 單板式透鏡架，擦拭時大大降低對光室的污染
5. 基于ARM9的儀器狀態實時監控系統
6. 網口采集，通用性更強
7. 固態吸附阱，防止油氣對光室的污染，提高長期運行穩定性
8. 銅火花臺底座，提高散熱性及堅固性能
想必大家對鋼研納克SparkCCD 6000型火花發射光譜儀有了更深刻的了解,想知道更多便攜式X熒光光譜儀，拉曼光譜儀,手持式X熒光光譜儀等不同類型光譜儀的資訊，敬請關注鋼研納克檢測技術有限公司=網站。
硫是有害的雜質，在鋼中要嚴格限制其含量。硫作為常規分析非金屬元素，其激發產生的特征波長較長，能量較低，受光路的影響較大，所以它是光譜儀分析元素中較為敏感的元素。在日常分析中，儀器的飄移，如電源異常、設備震動、光電倍增管的老化等所造成的影響對硫來說，激發強度一般都是向低端偏離，容易出現數據的不準確性。
儀器測定結果偏差較大，分析結果不穩定該如何處理？
1）檢查分析方法是否正確，如分析模型、分析程序等；
2）儀器本身穩定：檢查儀器光室溫度、內部環境溫度、氣壓力是否滿足分析要求；
3）激發控樣：若控樣分析結果良好，說明儀器性能不存在問題，待測樣品可能存在偏析、縮孔、裂紋等缺陷；
4）控樣結果也存在較大問題時，應當標準化；
5）清理火花臺，擦拭透鏡或平鏡，清理排污通道，更換氣等，然后重新校準曲線；
6）外界條件符合要求：室溫、濕度在規定范圍內；電源電壓穩定；周圍無大功率、強輻射電器運作；地線連接良好等；
7）對部分基體中的特別元素需要延長儀器穩定時間。
若還存在問題，請聯系鋼研納克售后工程師。
光電光譜分析選用的分析線，必需符合下列要求
直讀光譜分析時，一般都采用內標法。因內標法進行分析時常采用多條分析線和一條內標線組成，常用試料中的基體元素為內標元素。組成的線對要求均稱，就是當激發光源有波動時，兩條線對的譜線強度雖有變化，但強度比或相對強度能保持不變。
如R表示強度比即
R=I1/I0
I1為分析線的強度，Io為內標線強度，表明I1和Io同時變，而R則不受影響。R與含量C之間有線性關系。
在光電直讀光譜分析時，有很多分析通道，要安裝許多內標通道有困難，因此采用一個內標線。但有人認為再要提高光電光譜分析的準確度還得采用不同的內標線，這還有待于光電轉換元件的小型化來解決。
光電法時，有時還用內標線來控制曝光量，稱為自動曝光，也就是樣品在曝光時，分析線和內標分別向各自積分電容充電，當內標線的積分電容器充電達到某一預定的電壓時，自動截止曝光。此時分析線的積分電容器充電達到的電壓即代表分析線的強度I，并且亦即代表分析線的強度比R(因為R=I1/Io，而此時Io保持常數)這個強度I或強度比R就由測光讀數所表示。
現在一般采用計時曝光法較為普遍。
