寧夏ICPOES光譜儀經銷商的行業須知「多圖」

ICP光源觀察方式

水平觀察：又稱為軸向觀察或端視觀測，是采用水平放置的ICP光譜儀炬管，“火焰”氣流方向與采光光路方向呈水平重合;可使整個火焰個個部分的光都全部通過狹縫。水平觀察方式的優點是：由于整個“火焰”各個部分的光都可以被采集導致靈敏度高，對簡單樣品有較好的檢出限;其缺點：基體效應和電離干擾大，線性范圍小，炬管溶液積炭和積鹽而沾污，需要及時清洗和維護，RF功率設置不能一般不超過1350W;使用于光譜儀水質分析中。第三元素的影響：引入低電離電位的釋放劑(如T1)的等離子體，電子溫度將增加。

ICP光譜儀是什么構成的？

一臺典型的ICP光譜儀主要由一個光學平臺和一個檢測系統組成。包括以下幾個主要部分：

1. 入射狹縫: 在入射光的照射下形成光譜儀成像系統的物點。

2. 準直元件: 使狹縫發出的光線變為平行光。該準直元件可以是一獨立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上，如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。

3. 色散元件: 通常采用光柵，使光信號在空間上按波長分散成為多條光束。

4. 聚焦元件: 聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像，其中每一像點對應于一特定波長。

5. 探測器陣列：放置于焦平面，用于測量各波長像點的光強度。該探測器陣列可以是CCD陣列或其它種類的光探測器陣列。

ICP光譜儀的校正方法

波長校正

波長校正是為使實際波長同檢測器檢出波長相一致。大致可分為兩分部：首先通調整儀器來對光譜儀進行校正，然后是通過漂移補償的辦法減少因環境的變換導致譜線產生位移。光譜校正是儀器實際測得的波長與理論波長之間出現的偏差別進行的校正，一般是通過測試一系列元素的波長來進行校正，校正后所得數據即為對光譜彼進行校正的校正數據。對于儀器除塵，一般由電子，儀修或計算機的專業人員幫助，光譜儀儀器使用或管理人員如不懂電子知識，不了解儀器結構，不要輕易去動，以免發生意外，除塵應事先停機并關掉供電電源下進行。

漂移補嘗是因為光普儀光譜線位移與波長、溫度、濕度、壓力變化之間有非線性函數關系，這種函數關系具有普遍適用性。其中零級光譜線隨波長、溫度變化產生的位移。漂移補償是一種常規監視過程，其原理是在進樣間歇期間，監測多條氫線波長，將實際值與理論值相比較，并對誤差進行補償。為保證儀器的正常運行，延長儀器的使用壽命，廠家建議客戶根據不同的情況，按如下提示進行定期的部件維護和保養。

ICP光譜儀主要用于微量元素的分析，可分析的元素為大多數的金屬和硅、磷、 硫等少量的非金屬，共 72 種。廣泛地應用于質量控制的元素分析，超微量元素 的檢測，尤其是在環保領域的水質監測。還可以對常量元素進行檢測，例如組分 的測量中，主要成分的元素測定。門等及過流開關連鎖保護開關損壞也會熄火，應急辦法是把開關進行短路處理后，短時間內對數據測定不會帶來影響，等待光譜儀維修工程師上門維修。

ICP光譜儀的使用和維護

儀器的供電線路要符合儀器的要求

為了保證ICP光譜儀的安全運行，供電線路必須要有足夠大的容量，否則儀器運行時線路的電壓降過大，影響儀器壽命。作為一臺精密測量儀器，它還需要有相對穩定的電源，供電電壓的變化一般不超過＋百分之5，如超過這個范圍，需要使用自動調壓器或磁飽和穩壓器，不能使用電子穩壓器，由于電子穩壓器在電壓高時產生削波，造成電脈沖，影響電子計算機、微處理器及相敏放大器的工作，引起誤動作。連續正弦波電源才能保證這些電子電路的正常工作，儀器供電線路單獨從供電變壓器的配電盤上得到，盡量不與大電機，大的通風機，空調機，馬弗爐等大的用電設備共用一條供電線路，以免在這些用電設備起動時，供電線路的電壓大幅度的波動，造成儀器工作不穩定。允許電流大于30安培的儀器要單獨接地。一般光譜儀地線電阻要小于5歐姆，計算機地線電阻要小于0.25歐姆（ASTM）標準，以防相互干擾。在ICP光譜儀的使用中，應經常注意電源的變化，不能長期在過壓或欠壓下工作，根據資料介紹，當儀器在過壓下工作會造成高頗發生器功率大管燈絲過度的蒸發和老化，電子管的壽命將會大大的縮短（是正常壽命的五分之～一六分之一）。如果在欠壓下工作，電子管燈絲溫度過低，電子發射不好，也容易造成電子發射材料過早老化，同樣也縮短電子管的壽命；其缺點：基體效應和電離干擾大，線性范圍小，炬管溶液積炭和積鹽而沾污，需要及時清洗和維護，RF功率設置不能一般不超過1350W。儀器運行中供電電壓的較大波動同樣也會造成高頻發生器輸出功率的不穩定，對測定結果的好壞影響極大，因此，應當注意供電電源的質量。