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發布時間:2020-09-09 16:44  
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一六儀器 專業測厚儀 多道脈沖分析采集,先進EFP算法 X射線熒光鍍層測厚儀
應用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領域.EFP算法結合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業界難題
軟件算法
?大致分為3個方法。一個是制作測量線的方法(經驗系數法)。這個方法是測定幾點實際的已知厚度樣品,尋求想測定元素的熒光X射線強度和厚度之間的關系,以其結果為基礎測定未知樣品取得熒光X射線,從而得到濃度值。
?另一個方法是理論演算的基礎參數法(FP法)。這個方法在完全了解樣品的構成和元素種類前提,利用計算的各個熒光X射線強度的理論值,推測測定得到未知樣品各個元素的熒光X射線強度的組成一致。
?NBS-GSC法也稱作理論Alpha系數法。它是基于熒光X射線激發的基本原理,從理論上使用基本物理參數計算出樣品中每個元素的一次和二次特征X射線熒光強度的。基于此再計算Lachance綜合校正系數,然后使用這些理論α系數去校正元素間的吸收增強。它與經驗系數法不同,這些校正系數是從“理論”上取得的,而非建立在“經驗”上。如果入射的X射線使某元素的K層電子激發成光電子后L層電子躍遷到K層,此時就有能量ΔE釋放出來,且ΔE=EK-EL,這個能量是以X射線形式釋放,產生的就是Kα射線,同樣還可以產生Kβ射線,L系射線等。因而它也不需要那么多的標樣,只要少數標樣來校準儀器因子。
江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發、生產、銷售的高新技術企業。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區。我們專業的研發團隊具備十年以上的從業經驗,經與海內外多名專家通力合作,研究開發出一系列能量色散X熒光光譜儀
X射線熒光光譜分析儀結構及組成:用X射線照射式樣時,試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線,需要把混合的X射線按波長(或能量)分開,分別測量不同波長(或能量)的X射線的強度,以進行定性和定量分析,為此試用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定的波長,同事又有一定能量,因此,X射線熒光光譜儀有2種基本類型:波長色散型(WD)和能量色散性(ED)。1X射線激發系統垂直上照式X射線光學系統空冷式微聚焦型X射線管,Be窗標準靶材:Rh靶。
波長色散型是由色散元件將不同波長的特征X射線衍射到不同的角度上,探測器需移動到想要的位置上來探測某一波長能量的射線。而能量色散型,是由探測器本身的能量分辨本領直接探測X射線的能量。波長色散型譜線分辨本領高,而能量色散型可同時測量多條譜線的能量。我們專業的研發團隊具備十年以上的從業經驗,經與海內外多名專家通力合作,研究開發出一系列能量色散X熒光光譜儀。

X熒光光譜儀原理及應用領域
一、簡單原理
每個元素受高能輻射激發,即發射出具有一定特征的X射線譜線。通過軟件測試分析得出該譜線波長,即可知道是那種元素(定性);通過分析測試其強度,得出該元素含量(定量)。X熒光光譜分析是一種非常常見的分析技術,
二、應用領域
X熒光光譜儀作為一種常見的分析技術手段,在現實生活中有著非常廣泛的應用,主要可以分為以下四大類:
1.鍍層行業
電鍍行業尤其以工業電鍍為主,在工業生產中,通常我們為了產品尤其是金屬類能達到一定的性能會在其表面鍍上另一種金屬,這種金屬電鍍的膜厚往往是受管控,而X熒光光譜儀就是其best的管控者。
2.重金屬檢測
我們的衣服帽子、喝水的杯子、小孩的玩具等等這些都跟我們有著緊密的關聯,但這其中也許就含有對我們人體是有害的重金屬,如Cr、Br、Cl、Pb、Hg、Cd、As等長期接觸會導致人體的病變甚至,為了使用安全,工業生產時需對產品重金屬檢測管控(RoHS檢測),而X熒光儀器就能對其進行監測。x射線熒光膜厚測厚儀為集成電路的發展,PCB線路板加工業的質量保駕護航。
3.元素成分分析
元素成分分析應用也是更加廣泛,如巖石礦產的開發開采,鋼鐵、銅合金、鋁合金等可能因某一種元素的含量不同就會大大改變其物理性質,為達到這種物理性質就需要控制相關元素的含量,通過X熒光儀器的檢測就可以很好的生產出我們所需的物品,另外還可以利用成分分析原理對珠寶首飾進行真假鑒定。數據報告:對測量的數據結果進行對比和分析,判斷數據是否正常,若出現異常可進行多次測量排除偶然誤差14。
4.古董的檢測
X熒光儀器在古董的檢測鑒定上也起著重要的作用,通過儀器檢測對產品進行定性分析可得其元素成分,從而對產品的年限進行一個判斷,得出結論。


江蘇一六儀器 X射線熒光光譜測厚儀 一次性同時分析:23層鍍層,24種元素
厚度di檢出限:0.005um
性能優勢
精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統
先進的圖像識別
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器,自動切換
雙重保護措施,實現無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度
全自動智能控制方式,一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位
開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣
關蓋推進樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點
點擊軟件界面測試按鈕,自動完成測試并顯示測試結果
