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發布時間:2020-12-16 09:38  
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一六儀器X射線熒光測厚儀 研發生產廠家 品質保證
江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發、生產、銷售的高新技術企業。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區。我們專業的研發團隊具備十年以上的從業經驗,經與海內外多名專家通力合作,研究開發出一系列能量色散X熒光光譜儀。穩定的多道脈沖分析采集系統、先進的解譜方法和EFP算法結合精準定位及變焦結構設計,解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業界難題。c安裝人員,要進行X射線的防護教育,應佩帶劑量測試筆,穿防護作業服,戴防護眼鏡和手套。
測厚儀介紹:可以用來在線測 量軋制后的板帶材厚度,并以電訊號的形式輸出。該電訊號輸給顯示器和自動厚度控制系統,以實現 對板帶厚度的自動厚度控制(AGC)。 目前常見的測厚儀有γ射線、β射 線、x射線及同位素射線等四種,其安放位置均在板帶軋機的出口或入 口側。設計、安裝測厚儀時要在可能的條件下盡量靠近工作輥,目的是降低板厚的滯后調整時間。第三,在測量過程中,被測物體上,可能會有附著物,也會影響測量的精度。
儀一六儀器 快速精準分析膜厚儀穩定的多道脈沖分析采集系統,先進的解譜方法,解決各種大小多層多元素的涂鍍層厚度分析,
微聚焦射線裝置:可檢測面積小于0.002mm2的樣品,可測試各微小的部件.
測厚儀分類:
一、磁性式
二、渦電流式
三、紅外測厚儀
四、電解式(庫倫法)
五、金相測試法
六、非破壞熒光式(X光)
具體講下渦流測厚儀原理如下:
1.渦流測厚儀當載有高頻電流的探頭線圈置于被測金屬表面時,由于高頻磁場的作用而使金屬體內產生渦流,此渦liu產生的磁場又反作用于探頭線圈,使其阻抗發生變化,此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離(即覆蓋層的厚度)有關,因而根據探頭線圈阻抗的變化可間接測量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。涂鍍層測厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩定性好、操作簡便等特點,是控制和保證產品質量必不可少的檢測儀器,廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。
2.同位素測厚儀利用物質厚度不同對輻射的吸收與散射不同的原理,可以測定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片,塑料膜,紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。
X射線熒光的基本原理
鍍層測厚儀|光譜測厚儀|X-ray測厚儀|X熒光測厚儀|凃層膜厚儀---一六儀器 歡迎咨詢聯系
X射線熒光是由原級X射線照射待測樣品時所產生的次級X射線,入射的X射線具有相對較大的能量,使其可以轟擊出位于元素原子內層中的電子。X射線熒光光譜的波長在0.01-10納米之間,能量在124KeV-0.124KeV之間。用于元素分析中的X射線熒光光譜波長的范圍在0.01-11納米之間,能量為0.111-0.124KeV。當人射x射線撞擊原子中的電子時,如光子能量大于原子中的電子約束能,電子就會被擊出。
當X射線激發出試樣特征X射線時,其入射電磁輻射能量必須大于某一個值才能引起其內層電子激發態從而形成空穴并引起電子的躍遷,這個值是吸收限,相當于內層電子的功函數。如果入射電磁輻射的能量低于吸收限則在任何情況下都不能激發原子內層電子并產生特征X射線。手持式的磁感應原理是,利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。