FE膜厚儀-FE-蘇州大塚電子(查看)

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

半積分球。大塚電子獨有專利，F(xiàn)E-3000，提高積分球測試效率一倍，更易于樣品的裝夾，切換迅速（世界范圍內(nèi)獨i家）；(2)多次激發(fā)修正。大塚電子獨有專利，F(xiàn)E3000廠家，i大程度降低樣品所反射的激發(fā)光再次照射樣品帶來的多次激發(fā)， 對粉末和固體測試精度提高明顯（世界范圍內(nèi)獨i家）；(3)光譜可擴展， 光譜探測范圍可擴展至1700nm甚至2550nm.(4) 可以升級配備控溫系統(tǒng)（-30℃-300℃）

本儀器是一套使用積分半球?qū)Ρ∧顦悠坊蚍蹱钗飿悠愤M行效率測試的系統(tǒng)。

FE3000反射式膜厚量測儀特點：寬闊的波長量測范圍。(190nm~1100nm)薄膜到厚膜的膜厚量測范圍。(1nm~250μm)對應(yīng)顯微鏡下的微距量測口徑。不銹鋼樣品池及石英材質(zhì)光學(xué)窗口，光學(xué)透過率大于98%，全波段無熒光反應(yīng)，F(xiàn)E，用于固體、粉末及薄膜樣品測試（數(shù)量5個），尺寸直徑≤10mm

本儀器是一套使用積分半球?qū)Ρ∧顦悠坊蚍蹱钗飿悠愤M行效率測試的系統(tǒng)。

     原理為：利用單色儀和氙燈的組合可實現(xiàn)任意波段的激發(fā)光并以此來照射熒光材料樣品，再以光譜儀對產(chǎn)生的發(fā)光光譜進行測試并對其熒光材料特性做出評價。本系統(tǒng)采用了具有高靈敏度、高穩(wěn)定的本公司的光譜儀對光譜進行測量。

光纖在極度彎曲后會有可能發(fā)生斷裂。故，F(xiàn)E膜厚儀，請將彎曲半徑保持在10cm以上(即:不要過于折疊光纖，以免損壞).將樣品放入樣品放置cell內(nèi)，然后放入積分半球內(nèi)。

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