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發(fā)布時(shí)間:2020-10-09 23:01  





氦質(zhì)譜檢漏的優(yōu)越性
氦質(zhì)譜檢漏法是根據(jù)質(zhì)譜分析的原理, 以氦作示蹤氣體, 對各種需密封的容器的漏隙進(jìn)行快速定位和定量檢測的理想方法。
由于氦是惰性氣體, 對大氣無污染, 使用比較安全; 而且氦的原子量小、粘度小, 容易滲透過任何可能存在的漏隙, 因此檢測靈敏度高、速度快、適用范圍廣; 另外氦在大氣中含量少(僅萬分之五) , 離子質(zhì)量與其它氣體離子質(zhì)量相差很大, 不易受干擾, 錯(cuò)判幾率小。所以, 與其它諸多檢漏方法比, 氦質(zhì)譜檢漏具有的優(yōu)越性。
隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展, 檢漏應(yīng)用技術(shù)在不斷地更新, 氦質(zhì)譜檢漏技術(shù)也在不斷擴(kuò)展到更廣闊的領(lǐng)域當(dāng)中。為提高產(chǎn)品合格率和生產(chǎn)效率, 不應(yīng)一味沿用的古老且落后的手段處理泄漏問題。
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質(zhì)譜法基本原理
質(zhì)譜,又稱質(zhì)譜法(mass spectrometry,MS),是通過不同的離子化方式,將試樣(原子或分子)轉(zhuǎn)化為運(yùn)動的氣態(tài)離子,并按照質(zhì)荷比(m/z)大小進(jìn)行分離檢測的分析方法,是一種與光譜并列的譜學(xué)方法。根據(jù)質(zhì)譜圖上峰的位置和相對強(qiáng)度大小,質(zhì)譜可對無機(jī)物、有機(jī)物和生物大分子進(jìn)行定性和定量分析。Thomson JJ于1906年發(fā)明質(zhì)譜,并運(yùn)用于發(fā)現(xiàn)非性同位素和無機(jī)元素分析。20世紀(jì)40年代以后開始用于有機(jī)物分析。Thomson JJ于1906年發(fā)明質(zhì)譜,并運(yùn)用于發(fā)現(xiàn)非性同位素和無機(jī)元素分析。20世紀(jì)40年代以后開始用于有機(jī)物分析。80年代初期,快原子轟擊電離的應(yīng)用,是質(zhì)譜更好的運(yùn)用于生物化學(xué)大分子。90年代以來,隨著電噴霧電離和基質(zhì)輔助激光解吸電離的應(yīng)用,已形成生物質(zhì)譜學(xué)一新學(xué)科[1]。目前,質(zhì)譜法已經(jīng)日益廣泛的應(yīng)用于原子能、化學(xué)、電子、冶金、、食品、陶瓷等工業(yè)生產(chǎn)部門,農(nóng)業(yè)科學(xué)研究部門,以及物理、電子與離子物理、同位素地質(zhì)學(xué)、有機(jī)化學(xué)等科學(xué)技術(shù)領(lǐng)域[2]。
質(zhì)譜法基本原理
質(zhì)譜法的基本原理是試樣分子或原子在離子源中發(fā)生電離,生成各種類型帶電粒子或離子,經(jīng)加速電場的作用獲得動能形成離子束;進(jìn)入質(zhì)量分析儀,在其中再利用帶電粒子在電場或磁場中運(yùn)動軌跡的差異,將不同質(zhì)荷比的離子按空間位置或時(shí)間的不同而分離開;然后到達(dá)離子將離子流轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘枺玫劫|(zhì)譜圖。
質(zhì)譜儀基本結(jié)構(gòu),化合物的質(zhì)譜是由質(zhì)譜儀測得的。質(zhì)譜儀是使分析試樣離子化并按質(zhì)荷比大小進(jìn)行分離、檢測和記錄的儀器。一般質(zhì)譜儀由進(jìn)樣系統(tǒng),離子源,檢漏設(shè)備價(jià)格,質(zhì)量分析儀,離子及信號放大記錄系統(tǒng)組成

氦質(zhì)譜檢漏儀的應(yīng)用拓展
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例如火箭發(fā)動機(jī)及姿態(tài)發(fā)動機(jī),過去是打壓刷肥皂水檢漏,現(xiàn)在重新改進(jìn)工藝用氦質(zhì)譜檢漏儀檢漏,采用正壓吸槍與氦罩法結(jié)合,使檢漏靈敏度大大提高,從而保證了發(fā)動機(jī)質(zhì)量。火箭箭體的檢漏采用正壓吸槍、氦罩法、累集法等幾種方法的結(jié)合。由于檢漏技術(shù)的應(yīng)用,提高了檢漏靈敏度,彌補(bǔ)了吸入法檢漏時(shí)儀器靈敏度低的不足。


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