檢漏設備價格

氦質譜檢漏的優越性

氦質譜檢漏法是根據質譜分析的原理， 以氦作示蹤氣體， 對各種需密封的容器的漏隙進行快速定位和定量檢測的理想方法。

由于氦是惰性氣體， 對大氣無污染， 使用比較安全； 而且氦的原子量小、粘度小， 容易滲透過任何可能存在的漏隙， 因此檢測靈敏度高、速度快、適用范圍廣； 另外氦在大氣中含量少(僅萬分之五) ， 離子質量與其它氣體離子質量相差很大， 不易受干擾， 錯判幾率小。所以， 與其它諸多檢漏方法比， 氦質譜檢漏具有的優越性。

隨著科學技術的不斷發展， 檢漏應用技術在不斷地更新， 氦質譜檢漏技術也在不斷擴展到更廣闊的領域當中。為提高產品合格率和生產效率， 不應一味沿用的古老且落后的手段處理泄漏問題。

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質譜法基本原理

質譜，又稱質譜法（mass spectrometry，MS），是通過不同的離子化方式，將試樣（原子或分子）轉化為運動的氣態離子，并按照質荷比（m/z）大小進行分離檢測的分析方法，是一種與光譜并列的譜學方法。根據質譜圖上峰的位置和相對強度大小，質譜可對無機物、有機物和生物大分子進行定性和定量分析。Thomson JJ于1906年發明質譜，并運用于發現非性同位素和無機元素分析。20世紀40年代以后開始用于有機物分析。Thomson JJ于1906年發明質譜，并運用于發現非性同位素和無機元素分析。20世紀40年代以后開始用于有機物分析。80年代初期，快原子轟擊電離的應用，是質譜更好的運用于生物化學大分子。90年代以來，隨著電噴霧電離和基質輔助激光解吸電離的應用，已形成生物質譜學一新學科[1]。目前，質譜法已經日益廣泛的應用于原子能、化學、電子、冶金、、食品、陶瓷等工業生產部門，農業科學研究部門，以及物理、電子與離子物理、同位素地質學、有機化學等科學技術領域[2]。

質譜法基本原理

質譜法的基本原理是試樣分子或原子在離子源中發生電離，生成各種類型帶電粒子或離子，經加速電場的作用獲得動能形成離子束；進入質量分析儀，在其中再利用帶電粒子在電場或磁場中運動軌跡的差異，將不同質荷比的離子按空間位置或時間的不同而分離開；然后到達離子將離子流轉變為電信號，得到質譜圖。

質譜儀基本結構，化合物的質譜是由質譜儀測得的。質譜儀是使分析試樣離子化并按質荷比大小進行分離、檢測和記錄的儀器。一般質譜儀由進樣系統，離子源，檢漏設備價格，質量分析儀，離子及信號放大記錄系統組成

氦質譜檢漏儀的應用拓展

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例如火箭發動機及姿態發動機，過去是打壓刷肥皂水檢漏，現在重新改進工藝用氦質譜檢漏儀檢漏，采用正壓吸槍與氦罩法結合，使檢漏靈敏度大大提高，從而保證了發動機質量。火箭箭體的檢漏采用正壓吸槍、氦罩法、累集法等幾種方法的結合。由于檢漏技術的應用，提高了檢漏靈敏度，彌補了吸入法檢漏時儀器靈敏度低的不足。

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