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發布時間:2021-05-11 04:34  
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基于用戶的分析需求,儀器可以定制成十種標準基體的任意組合。
CCD光學系統可以自由選擇120-800nm范圍內的任意譜線用于分析線或參比線。光電管光學系統可設置108個光電倍增管。每個光電管通道都有是一個微積分器,具有TRS(時間分解光譜技術)分析痕量元素和SSE(單火花評估技術)分析元素相態。事實上,所有分析要求都可以在M12中無折衷地實現。科學儀器的進展一定程度上代表著科學前沿的方向,也是推動科技創新的重要支撐。
斯派克火花光譜儀的精致設計使用日常維護和校工作量降到,儀器操作變得非常簡單。對于儀器參數設置,數據管理,聯網傳輸,打印和材料牌號判定等功能,軟件設計了簡單直觀,易懂的操作界面。SQL數據庫格式是數據管理軟件的基礎。
配備現代光譜技術和高質量的元器件,SPECTROLAB設計應用于解決各種分析要求。憑借其杰出的性能表現和靈活性,適用于過程控制,質量監控,材料牌號判定,材料研究和開發,以及金屬冶煉,加工和回收工業中的各種分析應用。

直讀光譜儀的校準描跡是對光譜儀的光學系統進行的校準。這是校準的首要前提。
在此條件下可進行如下校準:標準化即再校準工作曲線,然后可用到的校準方法有:(1)、修改持久工作曲線法(修改標準化參數);(2)、控樣法;(3)、類型標準化法。
透鏡污染透鏡污染引發的光強值下降。軟件中包含簡單直接、不言自明的圖標,以及熟悉和符合人體工學的操作方式,幾乎沒有任何學習曲線。透鏡安裝在光譜儀的分光室和火花室之間,起隔離分光室和火花室及匯聚譜線的作用。激發一定數量的試樣以后,火花室內激發產生的灰燼等污染物及分光室內真空泵長時間運轉蒸騰產生的油污分子會污染透鏡的兩個表面,降低透鏡的透光性,引發光強值下降。因此,每隔規定的時間或分析了一定數量的試樣后,要將透鏡取下,浸泡在無水乙醇或其他清洗液中數十分鐘再用干凈的綢布擦拭干凈后裝上。 次數用完API KEY 超過次數限制
控制樣品的使用①、分析爐中樣品應盡量采用同鋼種,接近含量的控制標準樣品。DSOI技術將傳統垂直觀測系統的靈敏度提高了數倍,避免了垂直雙觀測結構的復雜缺點和降低了用戶使用成本。②、一個控制樣品很難滿足多元素分析的要求,盡量做到分析樣品的含量與控制標鋼的成分接近。③、對特殊情況,個別元素接近邊緣規格或超過標準規定時,應選擇適當含量的標鋼去進行控制。④、應隨時聯系電爐,取好光譜內控制標鋼,爐中快速分析,應盡量采取澆注的控制標鋼為好。⑤、對成品試樣,要注意樣品的狀態(指淬火,退火狀態)選擇適當的控制標鋼。 次數用完API KEY 超過次數限制