光譜分析儀的用途和特點(diǎn) 一六儀器1

江蘇一六儀器  X射線熒光光譜測(cè)厚儀研發(fā)生產(chǎn)廠  一六儀器一liu品質(zhì)  可同時(shí)檢測(cè)多層材料鍍層厚度(含有機(jī)物)及成分.操作簡(jiǎn)單方便.厚度含量測(cè)試只需要幾秒鐘,歡迎來(lái)電咨詢!

性能優(yōu)勢(shì)：

   下照式設(shè)計(jì)：可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。

   無(wú)損變焦檢測(cè):可對(duì)各種異形凹槽進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，凹槽深度范圍0-90mm。

   微聚焦射線裝置：可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品，可測(cè)試各微小的部件。

   率的jie shou qi：即使測(cè)試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性。

   EFP先進(jìn)算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

激光測(cè)厚儀的技術(shù)指標(biāo)介紹

   激光測(cè)厚儀一般是由兩個(gè)激光位移傳感器上下對(duì)射的方式組成的，上下的兩個(gè)傳感器分別測(cè)量被測(cè)體上表面的位置和下表面的位置，通過(guò)計(jì)算得到被測(cè)體的厚度。激光測(cè)厚儀的優(yōu)點(diǎn)在于它采用的是非接觸的測(cè)量，相對(duì)接觸式測(cè)厚儀更精準(zhǔn)，不會(huì)因?yàn)槟p而損失精度。相對(duì)超聲波測(cè)厚儀精度更高。4)儀表柜、主控臺(tái)，就地控制箱和前置放大器箱的安裝，根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)施工條件分頭進(jìn)行吊裝。相對(duì)X射線測(cè)厚儀沒(méi)有輻射污染。

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X射線測(cè)厚儀測(cè)量精度的影響因素有哪些

首先,是X射線的高壓控制箱會(huì)對(duì)測(cè)量的精度造成一定的影響。X射線測(cè)厚儀的測(cè)量原理就是通過(guò)施加高壓電源出X射線,通過(guò)X射線的穿透物體時(shí)的衰減量來(lái)測(cè)量被測(cè)物體的厚度。但是高壓控制箱的安裝位置會(huì)對(duì)測(cè)厚儀的準(zhǔn)確度造成一定的影響。安裝的位置不當(dāng)就會(huì)使測(cè)量的精度不準(zhǔn)確波動(dòng)比較明顯。手持式的磁感應(yīng)原理是，利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測(cè)定覆層厚度。另外,X射線本身的衰減也會(huì)影響測(cè)厚儀的測(cè)量精度。

X射線熒光分析儀的應(yīng)用

一六儀器X射線熒光測(cè)厚儀 研發(fā)生產(chǎn)廠家 品質(zhì)保證

江蘇一六儀器有限公司研發(fā)的能量色散X熒光光譜儀具有穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析，歡迎來(lái)電咨詢！

X射線熒光分析儀的不斷完善和發(fā)展所帶動(dòng)的X 射線熒光分析技術(shù)已被廣泛用于冶金、地質(zhì)、礦物、石油、化工、生物、刑偵、考古等諸多部門和領(lǐng)域。X 射線熒光光譜分析不僅成為對(duì)其物質(zhì)的化學(xué)元素、物相、化學(xué)立體結(jié)構(gòu)、物證材料進(jìn)行試測(cè)，對(duì)產(chǎn)品和材料質(zhì)量進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，對(duì)人體進(jìn)檢和微電路的光刻檢驗(yàn)等的重要分析手段，也是材料科學(xué)、生命科學(xué)、環(huán)境科學(xué)等普遍采用的一種快速、準(zhǔn)確而又經(jīng)濟(jì)的多元素分析方法。同時(shí)，X 射線熒光光譜儀也是野外現(xiàn)場(chǎng)分析和過(guò)程控制分析等方面shou  xuan器之一。厚度含量測(cè)試只需要幾秒鐘,多小多復(fù)雜的樣品輕松搞定,歡迎來(lái)電咨詢。