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發(fā)布時(shí)間:2021-01-19 15:59  
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間接數(shù)字化射線檢測(cè)技術(shù)
間接數(shù)字化射線檢測(cè)技術(shù)是指,圖像的數(shù)字化過程需要作為單獨(dú)技術(shù)環(huán)節(jié)完成的射線檢測(cè)技術(shù)。現(xiàn)在工業(yè)中X射線檢測(cè)設(shè)備主要是采用圖像增強(qiáng)器來完成的。它是將X射線透過工件后的信息記錄在成像板上,經(jīng)掃描裝置讀取,再由計(jì)算機(jī)生出數(shù)字化圖像的技術(shù)。整個(gè)系統(tǒng)由成像板、激光掃描讀出器、數(shù)字圖像處理和儲(chǔ)存系統(tǒng)組成。直接數(shù)字化射線檢測(cè)技術(shù)主要是指采用分立X射線探測(cè)器完成的射線檢測(cè)技術(shù)。它包括:平板探測(cè)器、線陣成像器等。這些成像器在X射線檢測(cè)設(shè)備中完成圖像數(shù)字化過程。
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x射線是一種波長很短,能量巨大的電磁波,能穿透密度不同的物質(zhì),根據(jù)原子間隙的不同穿透能力有所差別,這也是目前x-ray檢測(cè)設(shè)備利用x-ray識(shí)別分析的核心。
X射線產(chǎn)生的方法很簡(jiǎn)單,就是通過加速電子撞擊金屬靶,在撞擊過程中,電子突然減速,在這個(gè)突然減速的過程中,損失的動(dòng)能(物理學(xué)能力守恒定律)會(huì)以光子的形式釋放出來,被稱之為制動(dòng)輻射。
電子在運(yùn)動(dòng)過程中,電壓越大,其攜帶的能量也就越大,釋放的光譜特征線也就越大。

X射線圖像形成的基本原理是由于X射線的特性以及部件的密度和厚度的差異。目前X射線檢測(cè)設(shè)備都可以實(shí)時(shí)成像,極大地提高了檢測(cè)效率。
X射線檢測(cè)技術(shù)可分為質(zhì)量檢測(cè)、厚度測(cè)量、物品檢查、動(dòng)態(tài)研究等四類應(yīng)用。質(zhì)量檢測(cè)廣泛應(yīng)用于鑄造、焊接工藝缺陷檢測(cè)、工業(yè)、鋰電池、電子半導(dǎo)體領(lǐng)域。厚度測(cè)量可用于在線,實(shí)時(shí),非接觸式厚度測(cè)量。物品檢查可用于機(jī)場(chǎng)、車站、海關(guān)查驗(yàn)、結(jié)構(gòu)尺寸的確定。動(dòng)態(tài)研究可用于研究動(dòng)態(tài)過程,如彈道、、核技術(shù)和鑄造技術(shù)。