大塚FE3000-FE-蘇州大塚電子

產品特點非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計。、高再現性量測紫外到近紅外波長反射率光譜，FE，分析多層薄膜厚度、光學常數(n:折射率、k:消光系數)。

應用范圍■ FPD

?LCD、TFT、OLED(有機EL)

■ 半導體、復合半導體

?矽半導體、半導體雷射、強誘電、介電常數材料

■ 資料儲存

?DVD、磁頭薄膜、磁性材料

■ 光學材料

?濾光片、抗反射膜

■ 平面顯示器

?液晶顯示器、薄膜電晶體、OLED

■ 薄膜

?AR膜

■ 其它

?建筑用材料

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

產品特點非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計。、高再現性量測紫外到近紅外波長反射率光譜，FE3000設備，分析多層薄膜厚度、光學常數(n:折射率、k:消光系數)。寬闊的波長量測范圍。(190nm~1100nm)薄膜到厚膜的膜厚量測范圍。(1nm~250μm)對應顯微鏡下的微距量測口徑。

 原理為：利用單色儀和氙燈的組合可實現任意波段的激發光并以此來照射熒光材料樣品，再以光譜儀對產生的發光光譜進行測試并對其熒光材料特性做出評價。本系統采用了具有高靈敏度、高穩定的本公司的光譜儀對光譜進行測量。

產品特點非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計。、高再現性量測紫外到近紅外波長反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學常數(n:折射率、k:消光系數)。

大塚FE3000-FE-蘇州大塚電子由大塚電子(蘇州）有限公司提供。大塚電子(蘇州）有限公司堅持“以人為本”的企業理念，擁有一支技術過硬的員工隊伍，力求提供更好的產品和服務回饋社會，并歡迎廣大新老客戶光臨惠顧，真誠合作、共創美好未來。大塚電子——您可信賴的朋友，公司地址：蘇州工業園區蘇州大道西1號世紀金融大廈1幢609，聯系人：曹先生。